[發明專利]像素缺陷的處理方法及處理系統

有效

• 申請號: 201610151029.9
• 申請日: 2016-03-16
• 公開（公告）號: CN105607313B
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發明（設計）人: 胡慧敏;陳中明
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304
• 代理人: 孫偉峰;武岑飛

1.一種像素缺陷的處理方法，其特征在于，包括：

檢測出顯示面板上的缺陷可疑像素；

對缺陷可疑像素進行點過濾處理；

其中，對缺陷可疑像素進行點過濾處理的具體方法包括：

確定環繞包圍缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素；

判斷環繞包圍缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素中是否存在至少兩個為缺陷可疑像素；

其中，若不存在，則將被環繞包圍的缺陷可疑像素過濾掉；若存在，則將被環繞包圍的缺陷可疑像素保留。

2.根據權利要求1所述的像素缺陷的處理方法，其特征在于，對缺陷可疑像素進行點過濾處理之后，所述像素缺陷的處理方法還包括：對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理；

其中，對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理的具體方法包括：

判斷經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素中是否存在至少兩個缺陷可疑像素相鄰；

若不存在，則將未與其他缺陷可疑像素相鄰的缺陷可疑像素過濾掉；若存在，則將相鄰的缺陷可疑像素保留。

3.根據權利要求2所述的像素缺陷的處理方法，其特征在于，對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理之后，所述像素缺陷的處理方法還包括：

對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小收縮處理；

對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小膨脹處理；

其中，對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小收縮處理的具體方法包括：

確定與對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素相鄰的上像素、下像素、左像素和右像素；

判斷與對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素相鄰的上像素、下像素、左像素和右像素是否都為缺陷可疑像素；

若是，則保留對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素；若否，則將對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素過濾掉；

其中，對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行微小膨脹處理的具體方法包括：將與對經微小收縮處理后被保留的缺陷可疑像素相鄰的上像素、下像素、左像素和右像素均確定為缺陷像素，并保留。

4.根據權利要求2所述的像素缺陷的處理方法，其特征在于，對經點過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行細線過濾處理之后，所述像素缺陷的處理方法還包括：

對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行收縮處理；

對經收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行膨脹處理；

其中，對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素進行收縮處理的具體方法包括：

確定環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素；

判斷環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素是否都為缺陷可疑像素；

其中，若都是，則將環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素保留；若至少一個不是，則將環繞包圍對經細線過濾處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素過濾掉；

其中，對經收縮處理后被保留的缺陷可疑像素進行膨脹處理的具體方法包括：將環繞包圍對經收縮處理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素和右下像素均確定為缺陷像素，并保留。

5.一種像素缺陷的處理系統，其特征在于，利用權利要求1至4任一項所述的像素缺陷的處理方法對顯示面板上的缺陷可疑像素進行處理。