[發(fā)明專利]一種基于小波細(xì)節(jié)特征的物質(zhì)和峰解析方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610146693.4
• 申請(qǐng)日: 2016-03-15
• 公開（公告）號(hào): CN105808506B
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉閣;武劍;張彥春;劉兵;王桐;周澂
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京時(shí)代之峰科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F17/15
• 分類號(hào): G06F17/15;G06F17/16
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127
• 代理人: 湯在彥

1.一種基于小波細(xì)節(jié)特征的物質(zhì)和峰解析方法，其特征在于，包括：

步驟A，采樣待測(cè)物質(zhì)經(jīng)X射線激發(fā)所輻射的信號(hào)，將采樣得到的信號(hào)的強(qiáng)度值組成原始數(shù)據(jù)序列；

步驟B，對(duì)所述原始數(shù)據(jù)序列進(jìn)行一級(jí)小波分解得到一級(jí)小波細(xì)節(jié)序列；

步驟C，利用所述一級(jí)小波細(xì)節(jié)序列擬合待測(cè)物質(zhì)的和峰函數(shù)；

步驟D，對(duì)所述待測(cè)物質(zhì)的和峰函數(shù)進(jìn)行分析，輸出分析結(jié)果；

其中，所述步驟C進(jìn)一步包括：

步驟C1，確定所述一級(jí)小波細(xì)節(jié)序列中最大和次大兩個(gè)波峰值所對(duì)應(yīng)的位置，以及確定最小和次小的兩個(gè)波谷值所對(duì)應(yīng)的位置；

步驟C2，將待測(cè)物質(zhì)的和峰函數(shù)定義為如下公式：

f(x)＝f₁(x)+f₂(x)

f1(x)=A1e(-(x-μ12)d12)]]>

f2(x)=A2e(-(x-μ22)d22)]]>

其中，f₁(x)表示和峰函數(shù)中的強(qiáng)勢(shì)項(xiàng)；f₂(x)表示和峰函數(shù)中的弱勢(shì)項(xiàng)；A₁、μ₁、d₁分別表示強(qiáng)勢(shì)項(xiàng)的幅值、數(shù)學(xué)期望和方差；A₂、μ₂、d₂分別表示弱勢(shì)項(xiàng)的幅值、數(shù)學(xué)期望和方差；f(x)表示和峰函數(shù)，為強(qiáng)勢(shì)項(xiàng)和弱勢(shì)項(xiàng)之和，其中x表示序列的順序號(hào)；

步驟C3，按照如下公式計(jì)算強(qiáng)勢(shì)項(xiàng)的數(shù)學(xué)期望μ₁和弱勢(shì)項(xiàng)的數(shù)學(xué)期望μ₂：

μ1=pindex(1)+rindex(1)2]]>

μ2=pindex(2)+rindex(2)2]]>

其中，pindex(1)、pindex(2)分別為一級(jí)小波細(xì)節(jié)序列中最大和次大兩個(gè)波峰值所對(duì)應(yīng)的位置；rindex(1)、rindex(2)分別為一級(jí)小波細(xì)節(jié)序列中最小和次小的兩個(gè)波谷值所對(duì)應(yīng)的位置；

步驟C4，按照如下公式計(jì)算強(qiáng)勢(shì)項(xiàng)的方差d₁和弱勢(shì)項(xiàng)的方差d₂：

d1=|pindex(1)-μ1|2]]>

d2=|pindex(2)+μ2|2]]>

步驟C5，將原始數(shù)據(jù)序列的最大波峰值確定為強(qiáng)勢(shì)項(xiàng)的幅值A(chǔ)₁，將原始數(shù)據(jù)序列的次大波峰值確定為弱勢(shì)項(xiàng)的幅值A(chǔ)₂。