[發明專利]封框膠寬度檢測裝置和檢測方法有效
| 申請號: | 201610140769.2 | 申請日: | 2016-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN105651184B | 公開(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發明(設計)人: | 馮文超;曾小強;張宏宇;李向永;邢磊 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 汪源;陳源 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試基板 封框膠 測試基臺 寬度檢測裝置 封框膠涂布 上表面 寬度檢測單元 檢測 測試 設備涂布 下表面 產線 對盒 | ||
本發明公開了一種封框膠寬度檢測裝置和檢測方法,該封框膠寬度檢測裝置包括:上測試基臺、下測試基臺和寬度檢測單元;其中,上測試基臺的下表面設置有第一測試基板,下測試基臺的上表面設置有第二測試基板;第二測試基板用于供封框膠涂布設備在第二測試基板的上表面涂布至少一條測試封框膠;第一測試基板用于在第二測試基板的上表面涂布有測試封框膠后與第二測試基板進行對盒;寬度檢測單元用于檢測位于第一測試基板和第二測試基板之間的測試封框膠的寬度。本發明的技術方案可對封框膠涂布設備涂布出的封框膠的實際寬度進行檢測,以供及時的對封框膠涂布設備的參數進行相應調整,從而避免了在對產線上的產品進行涂布時出現涂布不良的問題。
技術領域
本發明涉及顯示技術領域,特別涉及一種封框膠寬度檢測裝置和檢測方法。
背景技術
隨著科技的進步,液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)已經成為顯示領域的主流產品,在生產工藝中通過將陣列(Array)基板和彩膜(CF)基板對盒可以形成液晶顯示屏。其中,對盒工藝主要包括封框膠涂布、固化等步驟。
在對盒工藝完成后,往往需要進行對位檢測和封框膠寬度檢測(兩者一般同時進行),以檢測產線的良品率。其中,封框膠寬度檢測是指檢測涂布的封框膠的在硬化后的膠寬。當封框膠的寬度過小時,容易出現液晶滲漏等問題;當封框膠的寬度過大時,不利于窄邊框的實現。現有技術中,當檢測出封框膠的寬度數據不符合預定結果后,檢測人員會根據檢測結果對封框膠涂布設備進行相關參數的調整,從而避免后續產品在封框膠處出現不良。
然而,由于現有技術中封框膠寬度檢測必須在對盒工藝完成之后才可在對位檢查機內進行寬度檢測,從而導致數據反饋不及時,也就不能及時調整封框膠涂布設備,往往會造成很大損失。此外,受監測機能限制,對于封框膠涂布在(位于邊緣區域的)黑矩陣上的產品,由于封框膠被黑矩陣遮擋,因而無法進行寬度檢測,導致后續產品存在隱患。
發明內容
本發明提供一種封框膠寬度檢測裝置和檢測方法,可以及時對封框膠涂布設備涂布出的封框膠的寬度進行檢測,從而有效的降低產線中產品的不良率。
為實現上述目的,本發明提供了一種封框膠寬度檢測裝置,用于對封框膠涂布設備涂布出的封框膠的實際寬度進行檢測,其特征在于,包括:上測試基臺、下測試基臺和寬度檢測單元;
所述上測試基臺的下表面設置有第一測試基板,所述下測試基臺的上表面設置有第二測試基板,
所述第二測試基板用于所述供封框膠涂布設備在所述第二測試基板的上表面涂布至少一條測試封框膠;
所述第一測試基板用于在所述第二測試基板的上表面涂布有測試封框膠后與所述第二測試基板進行對盒;
所述寬度檢測單元用于檢測位于所述第一測試基板和所述第二測試基板之間的所述測試封框膠的寬度。
可選地,所述上測試基臺的下表面設置有第一凹槽,所述第一凹槽內設置有第一滑軌,所述第一滑軌沿第一方向延伸,所述下測試基臺的上表面設置有與所述第一凹槽相對應的第二凹槽,所述第二凹槽內設置有與所述第一滑滑軌相對應的第二滑軌;
所述寬度檢測單元包括:檢測光發射模塊、檢測光接收模塊和位移檢測模塊,所述位移檢測模塊與所述檢測光接收模塊連接,所述檢測光發射模塊和所述檢測光接收模塊中的一個設置在第一滑軌上,另一個設置在第二滑軌上;
所述檢測光發射模塊用于向所述檢測光接收模塊發射檢測光線;
所述檢測光接收模塊用于接收所述檢測光發射模塊發射出的檢測光線;
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