[發明專利]封框膠寬度檢測裝置和檢測方法

有效

• 申請號: 201610140769.2
• 申請日: 2016-03-11
• 公開（公告）號: CN105651184B
• 公開（公告）日: 2018-06-15
• 發明（設計）人: 馮文超;曾小強;張宏宇;李向永;邢磊
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 汪源;陳源

1.一種封框膠寬度檢測裝置，用于對封框膠涂布設備涂布出的封框膠的實際寬度進行檢測，其特征在于，包括：上測試基臺、下測試基臺和寬度檢測單元；

所述上測試基臺的下表面設置有第一測試基板，所述下測試基臺的上表面設置有第二測試基板；

所述第二測試基板用于供封框膠涂布設備在所述第二測試基板的上表面涂布至少一條測試封框膠；

所述第一測試基板用于在所述第二測試基板的上表面涂布有測試封框膠后與所述第二測試基板進行對盒；

所述寬度檢測單元用于檢測位于所述第一測試基板和所述第二測試基板之間的所述測試封框膠的寬度。

2.根據權利要求1所述的封框膠寬度檢測裝置，其特征在于，所述上測試基臺的下表面設置有第一凹槽，所述第一凹槽內設置有第一滑軌，所述第一滑軌沿第一方向延伸，所述下測試基臺的上表面設置有與所述第一凹槽相對應的第二凹槽，所述第二凹槽內設置有與所述第一滑軌相對應的第二滑軌；

所述寬度檢測單元包括：檢測光發射模塊、檢測光接收模塊和位移檢測模塊，所述位移檢測模塊與所述檢測光接收模塊連接，所述檢測光發射模塊和所述檢測光接收模塊中的一個設置在第一滑軌上，另一個設置在第二滑軌上；

所述檢測光發射模塊用于向所述檢測光接收模塊發射檢測光線；

所述檢測光接收模塊用于接收所述檢測光發射模塊發射出的檢測光線；

所述位移檢測模塊用于在所述檢測光發射模塊和所述檢測光接收模塊同步沿所述第一方向運動過程中，檢測所述檢測光接收模塊由第一狀態位置運動至第二狀態位置的位移，所述第一狀態位置為所述檢測光接收模塊由能夠接收到檢測光線狀態轉變至無法接收到檢測光線狀態時對應的位置，所述第二狀態位置為所述檢測光接收模塊由無法接收到檢測光線狀態轉變至能夠接收到檢測光線狀態時對應的位置。

3.根據權利要求1所述的封框膠寬度檢測裝置，其特征在于，所述上測試基臺的下表面和所述下測試基臺的上表面中的一個設置有凹槽，所述凹槽內設置有滑軌，所述滑軌沿第一方向延伸，所述上測試基臺的下表面和所述下測試基臺的上表面中的另一個對應所述滑軌的位置設置有反射結構；

所述寬度檢測單元包括：檢測光發射模塊、檢測光接收模塊和位移檢測模塊，所述位移檢測模塊與所述檢測光接收模塊連接，所述檢測光發射模塊和所述檢測光接收模塊設置于所述滑軌上；

所述檢測光發射模塊用于沿垂直于所述下測試基臺的方向發射檢測光線；

所述檢測光接收模塊用于接收所述反射結構反射的檢測光線；

所述位移檢測模塊用于在所述檢測光發射模塊和所述檢測光接收模塊同步沿所述第一方向運動過程中，檢測所述檢測光接收模塊由第一狀態位置運動至第二狀態位置的位移，所述第一狀態位置為所述檢測光接收模塊由能夠接收到檢測光線狀態轉變至無法接收到檢測光線狀態時對應的位置，所述第二狀態位置為所述檢測光接收模塊由無法接收到檢測光線狀態轉變至能夠接收到檢測光線狀態時對應的位置。

4.根據權利要求1所述的封框膠寬度檢測裝置，其特征在于，所述上測試基臺的下表面設置有若干個第一真空吸附孔，所述下測試基臺的上表面設置有若干個第二真空吸附孔。

5.根據權利要求1所述的封框膠寬度檢測裝置，其特征在于，所述上測試基臺的下表面設置有若干個容納孔，所述容納孔內設置有下壓柱；

所述下壓柱在所述容納孔中進行運動以從所述容納孔內伸出或縮回至所述容納孔內。

6.根據權利要求1所述的封框膠寬度檢測裝置，其特征在于，還包括：驅動單元，所述驅動單元與所述上測試基臺連接，用于驅動上測試基臺進行運動。

7.根據權利要求1所述的封框膠寬度檢測裝置，其特征在于，所述供封框膠涂布設備在所述第二測試基板的上表面涂布的測試封框膠條數為多條時，所述封框膠寬度檢測裝置還包括：計算單元，所述計算單元與所述寬度檢測單元連接；

所述計算單元用于根據所述寬度檢測單元檢測出的各條所述測試封框膠的寬度計算出封框膠涂布設備涂布出的封框膠的實際寬度。