[發明專利]半導體激光器巴條單元一致性檢測儀及其檢測方法有效
| 申請號： | 201610110814.X | 申請日： | 2016-02-29 |
| 公開（公告）號： | CN105784330B | 公開（公告）日： | 2018-06-29 |
| 發明（設計）人： | 曹軍勝;高志堅;尹紅賀 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 長春菁華專利商標代理事務所(普通合伙) 22210 | 代理人： | 劉慧宇 |
| 地址： | 130033 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 巴條 微控制器系統 線陣CCD 發光點 半導體激光器 程控電流源 一致性檢測儀 光學透鏡 探針臺 電極 檢測 檢測技術領域 讀取 輸出端連接 光電特性 掃描電流 樣本計算 一維導軌 激光器 均勻性 一次線 方差 探針 成像 飽和 采集 驅動 | ||
【權利要求書】：
1.半導體激光器巴條單元一致性檢測儀的檢測方法，其特征是，包括以下步驟：
步驟一，將探針臺(1)、光學透鏡(2)和線陣CCD(3)均安裝于一維導軌(6)上；線陣CCD(3)和程控電流源(5)均與微控制器系統(4)連接；被測巴條(7)安裝于探針臺(1)上，程控電流源(5)的輸出端連接探針臺(1)的電極，電極與被測巴條(7)連接；
步驟二，微控制器系統(4)控制程控電流源(5)產生步進掃描電流用于驅動被測巴條(7)，被測巴條(7)的各發光點經過光學透鏡(2)成像于線陣CCD(3)，微控制器系統(4)通過線陣CCD(3)采集被測巴條(7)各發光點的亮度峰值，掃描電流每增大一步，微控制器系統(4)就讀取一次線陣CCD(3)，直至有發光點的亮度峰值達到線陣CCD(3)的飽和值為止；
步驟三，微控制器系統(4)以步驟二中被測巴條(7)各發光點的亮度為樣本計算其方差，作為評價被測巴條(7)各單元一致性的指標，方差越大說明一致性越差，方差越小則說明一致性越好；設被測巴條(7)有n個發光點，所測各發光點的亮度值分別為x1、x2、...、xn，則方差s2的計算公式為：
其中，
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