[發(fā)明專利]實(shí)現(xiàn)冗余功能存儲(chǔ)器芯片測試的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610086766.5
• 申請(qǐng)日: 2016-02-16
• 公開（公告）號(hào): CN105761760B
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 朱淵源
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/56
• 分類號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211
• 代理人: 王江富

1.一種實(shí)現(xiàn)冗余功能存儲(chǔ)器芯片測試的方法，其特征在于，利用自帶數(shù)字向量發(fā)生器的數(shù)字測試機(jī)實(shí)現(xiàn)冗余功能存儲(chǔ)器芯片測試，包括以下步驟：

一、把存儲(chǔ)器芯片主區(qū)域測試向量按最小冗余單元進(jìn)行分割，做成子測試向量組；最小冗余單元是一個(gè)存儲(chǔ)單元；

二、針對(duì)每個(gè)測試項(xiàng)目分別運(yùn)行子測試向量組，讀出子測試向量組的每個(gè)向量的測試結(jié)果；

三、把失效向量的序號(hào)換算成失效單元地址存放在內(nèi)存變量中，不同測試項(xiàng)目的子測試向量組測試出的失效單元地址存放在不同的內(nèi)存變量中，并累積計(jì)算每個(gè)測試項(xiàng)目的失效單元個(gè)數(shù)及地址；

四、根據(jù)每個(gè)測試項(xiàng)目的失效單元個(gè)數(shù)及地址，統(tǒng)計(jì)得出存儲(chǔ)器芯片主區(qū)域失效單元數(shù)的總和以及失效地址。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)現(xiàn)冗余功能存儲(chǔ)器芯片測試的方法，其特征在于，

存儲(chǔ)器芯片由X地址10個(gè)單元、Y地址8個(gè)單元組成。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)現(xiàn)冗余功能存儲(chǔ)器芯片測試的方法，其特征在于，

測試項(xiàng)目為3個(gè)。