[發(fā)明專利]一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置

有效

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• 申請日: 2016-02-16
• 公開（公告）號: CN105513993B
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 杜思元;顧萍萍;汪揚(yáng);杜春榮
• 申請（專利權(quán)）人: 太倉市同維電子有限公司
• 主分類號: H01L21/66
• 分類號: H01L21/66
• 代理公司: 北京天奇智新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11340
• 代理人: 楊文錄

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及雙腳雙色發(fā)光二極管裝配領(lǐng)域，尤其涉及一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置。

背景技術(shù)

目前，雙腳雙色二極管在電子產(chǎn)品制造領(lǐng)域使用越來越多，顏色相近的也越來越多，在類似紅橙雙色雙腳二極管。在裝配時(shí)如果使用機(jī)械折彎二極管的引腳，最終定型后需要對二極管的質(zhì)量進(jìn)行檢測，但是機(jī)械彎折后成型后的二極管，無法對二極管及其引腳的質(zhì)量進(jìn)行檢測。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置，解決現(xiàn)有技術(shù)中對彎折成型后的雙腳雙色發(fā)光二極管質(zhì)量無法進(jìn)行檢測的問題。

為解決上述問題，本發(fā)明所采取的技術(shù)方案是：

一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置，包括主體、A探針和B探針，主體的側(cè)面設(shè)有孔徑均為2.5mm的第一探孔和第二探孔，所述第一探孔和第二探孔的水平距離為5.5mm，垂直距離為13mm，所述主體的頂面設(shè)有供二極管雙引腳插入的孔，該孔其中一個(gè)豎直向下和第一探孔相連通，另一個(gè)豎直向下和第二探孔相連通；所述A探針和B探針可分別從第一探孔和第二探孔插入。

進(jìn)一步的，所述主體為透明絕緣玻璃構(gòu)成。

采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于：本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了二極管在成型時(shí)的引腳檢測，整個(gè)測試過程簡單快捷，測試準(zhǔn)確，提高了整個(gè)生產(chǎn)效率和質(zhì)量。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本發(fā)明測試不良品的狀態(tài)示意圖。

圖3是本發(fā)明測試良品的狀態(tài)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

圖1示出了本發(fā)明一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置的一個(gè)實(shí)施例：一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置，包括主體1、A探針和B探針，主體1的側(cè)面設(shè)有孔徑均為2.5mm的第一探孔2和第二探孔3，所述第一探孔2和第二探孔3的水平距離為5.5mm，垂直距離為13mm，所述主體1的頂面設(shè)有供二極管雙引腳插入的孔，該孔其中一個(gè)豎直向下和第一探孔2相連通，另一個(gè)豎直向下和第二探孔3相連通；所述A探針和B探針可分別從第一探孔2和第二探孔3插入。

根據(jù)發(fā)明一種用于雙腳雙色發(fā)光二極管折彎成型時(shí)的質(zhì)檢裝置的另一個(gè)實(shí)施，所述主體1為透明絕緣玻璃構(gòu)成。

本發(fā)明的使用方式如下：

前期準(zhǔn)備

識別物料類型，確認(rèn)屬于雙腳雙色二極管尤其注意紅橙雙色的二極管，其電參數(shù)十分接近，一般的二極管測試儀無法識別，其長短腳需要在2.5MM以上；

如圖2所示，利用本裝置測試出不良品

將雙腳雙色二極管的短腳從主體1的頂面插入，利用A探針和B探針分別從第一探孔2和第二探孔3插入，如果A探針能接觸到二極管的引腳，而B探針卻沒有接觸到二極管的引腳，則B探針無法反饋回電流信號，則屬于不良品。

如圖3所示，利用本裝置測試出良品

將雙腳雙色二極管的短腳從主體1的頂面插入，利用A探針和B探針分別從第一探孔2和第二探孔3插入，如果A探針能接觸到二極管的引腳，而B探針同時(shí)也接觸到二極管的引腳，則A探針和B探針均反饋回電流信號，則屬于良品。

盡管這里參照本發(fā)明的多個(gè)解釋性實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了描述，但是，應(yīng)該理解，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以設(shè)計(jì)出很多其他的修改和實(shí)施方式，這些修改和實(shí)施方式將落在本申請公開的原則范圍和精神之內(nèi)。更具體地說，在本申請公開、附圖和權(quán)利要求的范圍內(nèi)，可以對主題組合布局的組成部件和/或布局進(jìn)行多種變型和改進(jìn)。除了對組成部件和/或布局進(jìn)行的變形和改進(jìn)外，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，其他的用途也將是明顯的。