[發明專利]一種用于雙腳雙色發光二極管折彎成型時的質檢裝置有效
| 申請號: | 201610086460.X | 申請日: | 2016-02-16 |
| 公開(公告)號: | CN105513993B | 公開(公告)日: | 2018-01-05 |
| 發明(設計)人: | 杜思元;顧萍萍;汪揚;杜春榮 | 申請(專利權)人: | 太倉市同維電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京天奇智新知識產權代理有限公司11340 | 代理人: | 楊文錄 |
| 地址: | 215400 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 雙腳 發光二極管 折彎 成型 質檢 裝置 | ||
【權利要求書】:
1.一種用于雙腳雙色發光二極管折彎成型時的質檢裝置,其特征在于:包括由透明絕緣玻璃構成的主體(1)、A探針和B探針,所述主體(1)的側面設有孔徑均為2.5mm的第一探孔(2)和第二探孔(3),所述第一探孔(2)和第二探孔(3)的水平距離為5.5mm,垂直距離為13mm,所述主體(1)的頂面設有供二極管雙引腳插入的孔,該孔其中一個豎直向下和第一探孔(2)相連通,另一個豎直向下和第二探孔(3)相連通;所述A探針和B探針可分別從第一探孔(2)和第二探孔(3)插入。
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H01 基本電氣元件
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
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