[發明專利]貼片電阻檢測方法、系統及裝置有效
| 申請號: | 201610083944.9 | 申請日: | 2016-02-06 |
| 公開(公告)號: | CN105738747B | 公開(公告)日: | 2018-12-25 |
| 發明(設計)人: | 劉猛;成學平;李梁;張俊;劉健;黃治家 | 申請(專利權)人: | 深圳市杰普特光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/01 | 分類號: | G01R31/01 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 吳平 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍華新區觀瀾街道上*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電阻 檢測 方法 系統 裝置 | ||
一種貼片電阻檢測方法、系統及裝置,將包括多個貼片電阻的基板移動到測量設備的標準探針卡下,測量基板上的貼片電阻的普通電阻阻值;將基板移動到高壓設備140的高壓探針卡下,對基板上的貼片電阻加預設時間的高壓;將加高壓后的基板移動到測量設備的標準探針下,測量基板上的貼片電阻的高壓電阻阻值;根據高壓電阻阻值與普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內,判斷貼片電阻是否為異常電阻;根據判斷結果,切穿異常電阻。通過上述貼片電阻檢測方法、系統及裝置,可以根據高壓電阻阻值與普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內,判斷貼片電阻是否為異常電阻;并根據判斷結果,切穿異常電阻,如此,可以提高電阻穩定性良率,減小電阻不穩定帶來的風險。
技術領域
本發明涉及屏幕顯示領域,尤其涉及一種貼片電阻檢測方法、系統及裝置。
背景技術
在貼片電阻的大規模生產中,在不同的工序中,由于生產工藝、生產環境、生產設備、員工操作等諸多客觀因素的影響,均會出現一定概率的不良品。但由于貼片電阻的體積小、精度要求高、產量大等諸多特點,在現階段國內尚沒有一種設備可以對貼片電阻進行自動全面檢測,從而篩除不良品。這些不良品流入貼片電阻廠商的客戶端以后,會對電阻廠商的企業形象造成不良影響,同時由于不良品帶來的品質問題會給貼片電阻廠商帶來很大的經濟損失。
發明內容
基于此,有必要提供能一種可以對貼片電阻進行自動全面檢測的貼片電阻檢測方法、系統及裝置。
一種貼片電阻檢測方法,包括步驟:
獲取將包括多個貼片電阻的基板移動到測量設備的標準探針卡下時,測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的普通電阻阻值;
將所述基板移動到高壓設備的高壓探針卡下,并發送對所述基板上的所述貼片電阻加預設時間的高壓的加壓指令至高壓設備;
獲取將加高壓后的所述基板移動到所述測量設備的所述標準探針下時,測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的高壓電阻阻值;
根據所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內,判斷所述貼片電阻是否為異常電阻;
根據判斷結果,發送切穿所述異常電阻的切穿指令至鐳射設備。
通過上述貼片電阻檢測方法可以根據高壓電阻阻值與普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內,判斷所述貼片電阻是否為異常電阻;并根據判斷結果,發送切穿異常電阻的切穿指令至鐳射設備,如此,鐳射設備切穿異常電阻,可以提高電阻穩定性良率,減小電阻不穩定帶來的風險。
一種貼片電阻檢測系統,包括:
普通阻值獲取模塊,用于獲取將包括多個貼片電阻的基板移動到測量設備的標準探針卡下時,測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的普通電阻阻值;
指令發送模塊,用于將所述基板移動到高壓設備的高壓探針卡下,并發送對所述基板上的所述貼片電阻加預設時間的高壓的加壓指令至高壓設備;
高壓阻值獲取模塊,用于獲取將加預設時間的高壓后的所述基板移動到所述測量設備的所述標準探針下時,測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的高壓電阻阻值;
異常電阻判斷模塊,用于根據所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內,判斷所述貼片電阻是否為異常電阻;
所述指令發送模塊,還用于根據判斷結果,發送切穿所述異常電阻的切穿指令至鐳射設備。
通過上述貼片電阻檢測系統可以根據高壓電阻阻值與普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內,判斷所述貼片電阻是否為異常電阻;并根據判斷結果,發送切穿異常電阻的切穿指令至鐳射設備,如此,鐳射設備切穿異常電阻,可以提高電阻穩定性良率,減小電阻不穩定帶來的風險。
一種貼片電阻檢測裝置,包括:
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