[發明專利]貼片電阻檢測方法、系統及裝置

有效

• 申請號: 201610083944.9
• 申請日: 2016-02-06
• 公開（公告）號: CN105738747B
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 劉猛;成學平;李梁;張俊;劉健;黃治家
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種貼片電阻檢測方法，其特征在于，包括步驟：

獲取將包括多個貼片電阻的基板移動到測量設備的標準探針卡下時，測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的普通電阻阻值；

將所述基板移動到高壓設備的高壓探針卡下，并發送對所述基板上的所述貼片電阻加預設時間的高壓的加壓指令至高壓設備；所述高壓是指大于最大負荷電壓的電壓，其中，所述最大負荷電壓為所述貼片電阻到達最大功率時的電壓；

獲取將加高壓后的所述基板移動到所述測量設備的所述標準探針下時，測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的高壓電阻阻值；

根據所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內，判斷所述貼片電阻是否為異常電阻；

根據判斷結果，發送切穿所述異常電阻的切穿指令至鐳射設備；

所述根據所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內，判斷所述貼片電阻是否為異常電阻的步驟，包括：

當所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差不在所述預設差范圍內時，判斷所述貼片電阻為異常電阻；否則，判斷所述貼片電阻不為異常電阻。

2.根據權利要求1所述的貼片電阻檢測方法，其特征在于，所述獲取將包括多個貼片電阻的基板移動到測量設備的標準探針卡下時，測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的普通電阻阻值的步驟之后，所述根據判斷結果，發送切穿所述異常電阻的切穿指令至鐳射設備的步驟之前，還包括步驟：

根據所述普通電阻阻值是否在預設阻值范圍內，判斷所述貼片電阻是否為異常電阻。

3.一種貼片電阻檢測系統，其特征在于，包括：

普通阻值獲取模塊，用于獲取將包括多個貼片電阻的基板移動到測量設備的標準探針卡下時，測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的普通電阻阻值；

指令發送模塊，用于將所述基板移動到高壓設備的高壓探針卡下，并發送對所述基板上的所述貼片電阻加預設時間的高壓的加壓指令至高壓設備；所述高壓是指大于最大負荷電壓的電壓，其中，所述最大負荷電壓為所述貼片電阻到達最大功率時的電壓；

高壓阻值獲取模塊，用于獲取將加預設時間的高壓后的所述基板移動到所述測量設備的所述標準探針下時，測量得到的所述基板上的所述貼片電阻的高壓電阻阻值；

異常電阻判斷模塊，用于根據所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內，判斷所述貼片電阻是否為異常電阻；其中，當所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差不在所述預設差范圍內時，判斷所述貼片電阻為異常電阻；否則，判斷所述貼片電阻不為異常電阻；

所述指令發送模塊，還用于根據判斷結果，發送切穿所述異常電阻的切穿指令至鐳射設備。

4.根據權利要求3所述的貼片電阻檢測系統，其特征在于，

所述異常電阻判斷模塊，還用于根據所述普通電阻阻值是否在預設阻值范圍內，判斷所述貼片電阻是否為異常電阻。

5.一種貼片電阻檢測裝置，其特征在于，包括：

測量設備，用于測量所述基板上的所述貼片電阻的普通電阻阻值和高壓電阻阻值，包括標準探針卡；

運動設備，用于通過夾具將包括多個貼片電阻的基板移動到所述測量設備的標準探針卡下；

高壓設備，用于對所述基板上的所述貼片電阻加預設時間的高壓，包括高壓探針卡；所述高壓是指大于最大負荷電壓的電壓，其中，所述最大負荷電壓為所述貼片電阻到達最大功率時的電壓；

所述運動設備，還用于通過所述夾具將所述基板移動到所述高壓設備的高壓探針卡下；

所述測量設備，還用于根據所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差是否在預設差范圍內，判斷所述貼片電阻是否為異常電阻；其中，當所述高壓電阻阻值與所述普通電阻阻值的差不在所述預設差范圍內時，判斷所述貼片電阻為異常電阻；否則，判斷貼片電阻不為異常電阻；

鐳射設備，用于根據所述測量設備的判斷結果，切穿所述異常電阻。

6.根據權利要求5所述的貼片電阻檢測裝置，其特征在于，

所述測量設備，還用于根據所述普通電阻阻值是否在預設阻值范圍內，判斷所述貼片電阻是否為異常電阻。