[發(fā)明專利]具低翹曲度的驅(qū)動晶片及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610076584.X | 申請日: | 2016-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN107039235A | 公開(公告)日: | 2017-08-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊毓儒;盧智宏 | 申請(專利權(quán))人: | 奕力科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/78;G09G3/36;G02F1/13;G02F1/1333 |
| 代理公司: | 北京泰吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11355 | 代理人: | 張雅軍 |
| 地址: | 中國臺灣新竹縣*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具低翹 曲度 驅(qū)動 晶片 及其 制造 方法 | ||
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體驅(qū)動晶片及其制造方法,特別是涉及一種具低翹曲度的驅(qū)動晶片,以及該具低翹曲度的驅(qū)動晶片的制造方法。
【背景技術(shù)】
在液晶顯示器(Liquid Crystal Display,簡稱LCD)朝向窄邊框及厚度更薄的設(shè)計趨勢下,用于驅(qū)動像素動作的驅(qū)動晶片的尺寸也無法避免地需朝向更細(xì)長且薄的設(shè)計目標(biāo)邁進(jìn),然而,較長且薄的驅(qū)動晶片在成膜過程(Film Process)中會因?yàn)闅埩魬?yīng)力(Residual Stress)不易釋放而存有較嚴(yán)重的翹曲(Warpage)現(xiàn)象。具高翹曲度的驅(qū)動晶片,除了會讓操作機(jī)臺在外觀上因視覺辨識不良而造成取放(Pick up and Place)作業(yè)異常外,搬運(yùn)過程中,也較容易相對于承載盤(Tray)滑出而造成晶片損壞,另外,具高翹曲度的驅(qū)動晶片也會不利于下游LCD模塊制造商進(jìn)行粘合(Bonding)于玻璃基板(Chip on Glass,簡稱COG)的后段作業(yè)。
參閱圖1,現(xiàn)有一種如美國專利7169685號所公開的具低翹曲度的驅(qū)動晶片1,其包含一個包括呈反向設(shè)置的一個頂面111與一個底面112的基板11、一層形成于該基板11的該頂面111的驅(qū)動電路層12、一層用于保護(hù)該驅(qū)動電路層12表面的鈍化層13,及一層設(shè)置于該基板11的該底面112的應(yīng)力平衡層14。此方法主要是利用該應(yīng)力平衡層14來反向抵消在成膜過程中逐漸累積形成的殘留 應(yīng)力,借此改善驅(qū)動晶片的翹曲現(xiàn)象。雖然此種方法能有效制備具低翹曲度的驅(qū)動晶片1,但卻無法滿足驅(qū)動晶片朝薄型化發(fā)展的需求。
【發(fā)明內(nèi)容】
本發(fā)明的目的在于提供一種不僅能薄型化且能兼具低翹曲度,進(jìn)而有助于下游LCD模塊制造商進(jìn)行COG后段作業(yè)的具低翹曲度的驅(qū)動晶片。
本發(fā)明具低翹曲度的驅(qū)動晶片,包含一層配置電路層、一層第一介電層、一層第二介電層,及一種主絕緣材。
該配置電路層包括一個具有一個連接面的金屬區(qū)。
該第一介電層形成于該金屬區(qū)的該連接面。該第一介電層包括一個相反于該連接面的第一頂面。
該第二介電層形成于該第一介電層的該第一頂面。該第二介電層包括一個相反于該第一頂面的第二頂面,及多個自該第二頂面朝該第一介電層凹設(shè)的主溝槽。
該主絕緣材用于填設(shè)于所述主溝槽。
本發(fā)明的具低翹曲度的驅(qū)動晶片,該第一介電層還包括多個自該第一頂面朝該金屬區(qū)凹設(shè)的次溝槽,及一種用于填設(shè)所述次溝槽的次絕緣材。
本發(fā)明的具低翹曲度的驅(qū)動晶片,所述次溝槽不連通該金屬區(qū),所述主溝槽不連通該第一介電層。
本發(fā)明的具低翹曲度的驅(qū)動晶片,該配置電路層的該金屬區(qū)厚度介于0.5微米至1.5微米間。
本發(fā)明的具低翹曲度的驅(qū)動晶片,該第一介電層厚度介于0.3 微米至0.8微米間。
本發(fā)明的具低翹曲度的驅(qū)動晶片,該第二介電層厚度介于0.5微米至1微米間。
本發(fā)明的有益效果,通過利用多個自該第二頂面朝該第一介電層凹設(shè)的主溝槽,來局部釋放成膜過程中所累積的殘留應(yīng)力,借此達(dá)成降低晶片整體翹曲度的目的。
本發(fā)明的另一個目的,在于提供一種具低翹曲度的驅(qū)動晶片的制造方法。
本發(fā)明具低翹曲度的驅(qū)動晶片的制造方法是用來制造如上述所述的具低翹曲度的驅(qū)動晶片,并且包含下列步驟:(A)前段作業(yè):提供一個包含一層配置電路層的晶圓,該配置電路層包括一個具有一個連接面的金屬區(qū),該晶圓還包含一層形成于該連接面上的第一介電層,及多個晶圓切割道。(B)沉積作業(yè):形成一層第二介電層在該第一介電層上。(C)應(yīng)力釋放作業(yè):在該第二介電層形成多個主溝槽,并于所述主溝槽內(nèi)填設(shè)有一種主絕緣材。(D)切割作業(yè):利用一個切割刀沿著已完成應(yīng)力釋放作業(yè)的該晶圓的每一個晶圓切割道切割,以形成多個具低翹曲度的驅(qū)動晶片。
本發(fā)明的具低翹曲度的驅(qū)動晶片的制造方法,在該步驟(A)中的該第一介電層包括一個第一頂面,及多個自該第一頂面朝該金屬區(qū)凹設(shè)的次溝槽,且于所述次溝槽內(nèi)填設(shè)一種次絕緣材,所述次溝槽不連通該金屬區(qū)。
本發(fā)明的具低翹曲度的驅(qū)動晶片的制造方法,在該步驟(A)中的所述次溝槽分別能采用蝕刻方式或是雷射熔出方式成型,該步驟(C)中的所述主溝槽不連通該第一介電層,且分別能采用蝕刻方式或是 雷射熔出方式成型。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





