[發(fā)明專利]改進(jìn)型存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610053290.5
• 申請日: 2016-01-26
• 公開（公告）號: CN105719702A
• 公開（公告）日: 2016-06-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葉甜春
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院微電子研究所
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42;G11C29/56
• 代理公司: 北京藍(lán)智輝煌知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11345
• 代理人: 陳紅

1.一種存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測裝置，在同一個(gè)芯片上包括控制裝置、存儲(chǔ)器單元陣列、頁緩沖器、錯(cuò)誤檢測單元以及IO緩沖器，錯(cuò)誤檢測單元位于頁緩沖器與IO緩沖器之間用于在控制裝置的控制下對存儲(chǔ)器單元陣列中的錯(cuò)誤進(jìn)行檢測，其中，頁緩沖器至少包括用于以將測試數(shù)據(jù)與預(yù)加載的參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的裝置，錯(cuò)誤檢測單元至少包括預(yù)加載標(biāo)志寄存器，用于記錄芯片是否已經(jīng)預(yù)加載了標(biāo)準(zhǔn)參考數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測裝置，其中，控制裝置包括電壓發(fā)生器、解碼器、控制器，在控制器的控制下解碼器將來自電壓發(fā)生器的信號轉(zhuǎn)變?yōu)榇鎯?chǔ)器單元陣列的字線控制信號；優(yōu)選地，控制裝置的控制器進(jìn)一步包括用于存儲(chǔ)錯(cuò)誤檢測單元檢測結(jié)果的錯(cuò)誤檢測單元寄存器，以及用于接收指令或測試指令的指令/測試接口。

3.如權(quán)利要求1的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測裝置，其中，錯(cuò)誤檢測單元還進(jìn)一步包括組合邏輯運(yùn)算模塊、加法器、累加器、觸發(fā)器、選擇器、寄存器陣列，寄存器包括錯(cuò)誤碼計(jì)數(shù)寄存器、錯(cuò)誤位計(jì)數(shù)寄存器、故障閾值寄存器、通過/故障狀態(tài)寄存器、通過/故障標(biāo)記寄存器、包含錯(cuò)誤位地址的其他錯(cuò)誤信息寄存器、以及預(yù)加載標(biāo)志寄存器。

4.如權(quán)利要求3的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測裝置，其中，頁緩沖器中執(zhí)行比較的結(jié)果數(shù)據(jù)存入錯(cuò)誤碼計(jì)數(shù)寄存器，錯(cuò)誤碼計(jì)數(shù)寄存器與復(fù)位信號輸入累加器與觸發(fā)器構(gòu)成反饋回路，反饋回路的輸出一路連接至比較器、在比較器處與來自故障閾值寄存器的閾值作比較，比較的結(jié)果經(jīng)過選擇器選擇之后存入通過/故障狀態(tài)寄存器，反饋回路的輸出另一路連接至錯(cuò)誤位計(jì)數(shù)寄存器陣列。

5.如權(quán)利要求3的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測裝置，其中，頁緩沖器分為S個(gè)區(qū)段，錯(cuò)誤位計(jì)數(shù)寄存器陣列包括對應(yīng)的S個(gè)錯(cuò)誤位計(jì)數(shù)寄存器，S大于等于1。

6.一種存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測方法，采用如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測裝置，在控制裝置的控制下通過位于頁緩沖器與IO緩沖器之間的錯(cuò)誤檢測單元對存儲(chǔ)器單元陣列中的錯(cuò)誤進(jìn)行檢測，其中，所述方法至少包括步驟：

a、通過IO緩沖器裝載測試數(shù)據(jù)并編程到存儲(chǔ)器單元陣列；

可選的b1、從IO緩沖器向頁緩沖器預(yù)加載參考數(shù)據(jù)；

b2、從存儲(chǔ)單元讀取測試數(shù)據(jù)至頁緩沖器；

b3、在頁緩沖器中比較測試數(shù)據(jù)與預(yù)加載參考數(shù)據(jù)并對比較的結(jié)果計(jì)數(shù)；

c、通過讀取控制器中的寄存器的數(shù)值，直接獲得錯(cuò)誤檢測結(jié)果。

7.如權(quán)利要求6的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測方法，其中，步驟b1具體包括：判定是否存在錯(cuò)誤檢測指令，如果否則空載等待，如果是則判定預(yù)加載標(biāo)記是否為真，如果為假則預(yù)加載參考數(shù)據(jù)并對預(yù)加載標(biāo)記進(jìn)行置位，如果為真則繼續(xù)執(zhí)行步驟b2。

8.如權(quán)利要求6的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測方法，其中，對于已經(jīng)預(yù)加載過參考數(shù)據(jù)的芯片，切換測試數(shù)據(jù)圖樣時(shí)，只需將預(yù)加載標(biāo)記寄存器清零，即可加載新的參考數(shù)據(jù)執(zhí)行檢測流程。

9.如權(quán)利要求6的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測方法，其中，步驟b3具體包括：

b31、在頁緩沖器中將測試數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；

b32、從頁緩沖器向錯(cuò)誤檢測裝置讀取比較結(jié)果；

b33、對比較的結(jié)果進(jìn)行計(jì)數(shù)處理，具體的包括：對錯(cuò)誤位計(jì)數(shù)，列地址遞增，以及判定列地址是否超過當(dāng)前區(qū)段，如果否則返回至步驟b32，如果是則前進(jìn)至后續(xù)步驟。

10.如權(quán)利要求9的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢測方法，其中，步驟b33之后進(jìn)一步包括：判定錯(cuò)誤是否大于閾值，如果是則設(shè)置故障標(biāo)記，如果否則設(shè)置通過標(biāo)記；存儲(chǔ)故障信息；計(jì)數(shù)器復(fù)位；區(qū)段遞增；判定是否超過最后區(qū)段，如果是則結(jié)束，如果否則返回至步驟b32。