[發明專利]短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統及應用方法

在審

• 申請號: 201610052138.5
• 申請日: 2016-01-26
• 公開（公告）號: CN105634589A
• 公開（公告）日: 2016-06-01
• 發明（設計）人: 范巍;侯羿
• 申請（專利權）人: 四川華拓光通信股份有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 周慶佳

技術領域

本發明涉及一種在光模塊生產或測試情況下使用的調試系統。更具體地 說，本發明涉及一種用在光模塊生產或測試情況下的短距離傳輸萬兆光模塊 的綜合測試系統。

背景技術

萬兆光模塊中的萬兆SR(短距離)光模塊，其指的是萬兆850nm波長全 雙工光收發模塊，是目前短距離(300m以內)傳輸的主流光模塊，其廣泛應 用于企業級的以太網網絡中。

對于目前的萬兆SR光模塊生產工藝來說，主要包括光模塊的組裝及后期 參數的測試，而測試又分為發端調試、發端測試、收端調試、收端測試四個 步驟，每個步驟都要采用獨立的儀器以對相應的指標進行測試和控制，其主 要指標及所需儀器如下表所示：

對于當前主流的光模塊制造商，仍采用上述傳統的生產工藝來進行光模 塊的生產，同時采用分四步的方法完成萬兆SR產品的調測試，其發端測試、 調試時各器件工位搭建的連接示意圖如圖1所示，而收端測試、調試時各器 件工位搭建的連接示意圖如圖2所示。但是傳統生產工藝雖被業界廣泛采用， 工藝流程也較完善，但具有如下劣勢：

1、工藝流程較多，生產效率不夠理想；

2、使用了成本高昂的“光示波器”，生產線搭建成本較高；

3、多工位獨立，所需儀器數量成倍增加，且各工位引入的儀器誤差會產 生累積；

4、光示波器采集波形需要等待較長時間，限制了生產的高效運行。

發明內容

本發明的一個目的是解決至少上述問題和/或缺陷，并提供至少后面將說 明的優點。

本發明還有一個目的是提供一種短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系 統，其將傳統的4個調測試步驟整合為1個，以待測模塊與標準模塊之間的 實際通訊效果作為判斷依據，取代低效的眼圖質量測試，工藝流程顯著減少， 生產效率得到大大提高，且避免了誤差的累積；同時因其采用標準模塊配合 調測試，保證生產模塊的產品性能參數良好。

本發明還有一個目的是通過應用綜合測試系統的方法，提高測試的效率， 同時因其采用算法來實現光功率、消光比的調試，不必使用成本高昂的光示 波器，具有成本可控，穩定性好，效率提高的效果。

為了實現根據本發明的這些目的和其它優點，提供了一種短距離傳輸萬 兆光模塊的綜合測試系統，包括：

第一評估板，其上設置有待測萬兆光模塊，所述待測萬兆光模塊的接收 端與一誤碼儀連接，輸出端通過一光分路器分別連接至光功率計和第二評估 板，且所述光分路器與第二評估板之間還設置有一第一光衰減器，以構成待 測光模塊發端的測試模塊；

其中，所述第二評估板上設置有一標準萬兆光模塊，以通過一第二光衰 減器連接至第一評估板，進而通過所述第一評估板與誤碼儀連接，構成成待 測光模塊收端的測試模塊。

優選的是，其中，所述第一評估板及第二評估板上分別設置有PC控制板。

本發明的目的還可以進一步地由一種應用綜合測試系統的方法實現，包 括：

測試準備：將所述待測萬兆光模塊插入第一評估板中，所述第一評估板 中的PC控制板基于待測萬兆模塊的預定光功率進行相應計算，以將得到相應 的技術參數寫入到待測萬兆模塊中；

發端測試：所述誤碼儀發送一電信號至待測萬兆光模塊，所述待測萬兆 光模塊基于其內的技術參數產生相應的第一光信號，以通過待測萬兆光模塊 與標準萬兆光模塊之間的通信效果以及光功率計上的讀數，進而判斷待測萬 兆光模塊的發端性能；

收端測試：所述標準萬兆光模塊發送一第二光信號至待測萬兆光模塊， 以通過所述待測萬兆光模塊進行光電轉換后輸出至誤碼儀，進而判斷測萬兆 光模塊的收端性能。

優選的是，其中，在準備階段，還包括對測試系統中各器件進行的測試、 點檢并記錄相關的參數。

優選的是，其中，所述測試包括對各鏈接光路的插損參數測試，所述點 檢包括對各儀器與標準儀器測試時得到的差異參數，所述參數包括插損參數、 差異參數、及標準萬兆光模塊的性能參數。

優選的是，其中，所述技術參數包括：激光器工作時的偏置電流Ibias；

光模塊在傳輸“1”信號和“0”信號時所產生的交流電流Imod；

光模塊的信號丟失閾值Los。

優選的是，其中，所述偏置電流Ibias基于以下公式獲得：