[發明專利]短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統及應用方法

在審

• 申請號: 201610052138.5
• 申請日: 2016-01-26
• 公開（公告）號: CN105634589A
• 公開（公告）日: 2016-06-01
• 發明（設計）人: 范巍;侯羿
• 申請（專利權）人: 四川華拓光通信股份有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 周慶佳

1.一種短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統，其特征在于，包括：

第一評估板，其上設置有待測萬兆光模塊，所述待測萬兆光模塊的接收 端與一誤碼儀連接，輸出端通過一光分路器分別連接至光功率計和第二評估 板，且所述光分路器與第二評估板之間還設置有一第一光衰減器，以構成待 測光模塊發端的測試模塊；

其中，所述第二評估板上設置有一標準萬兆光模塊，以通過一第二光衰 減器連接至第一評估板，進而通過所述第一評估板與誤碼儀連接，構成成待 測光模塊收端的測試模塊。

2.如權利要求1所述的短距離傳輸萬兆光模塊的綜合測試系統，其特征 在于，所述第一評估板及第二評估板上分別設置有PC控制板。

3.一種應用如權利要求1-2任一項所述的綜合測試系統的方法，其特征 在于，包括：

測試準備：將所述待測萬兆光模塊插入第一評估板中，所述第一評估板 中的PC控制板基于待測萬兆模塊的預定光功率進行相應計算，以將得到相應 的技術參數寫入到待測萬兆模塊中；

發端測試：所述誤碼儀發送一電信號至待測萬兆光模塊，所述待測萬兆 光模塊基于其內的技術參數產生相應的第一光信號，以通過待測萬兆光模塊 與標準萬兆光模塊之間的通信效果以及光功率計上的讀數，進而判斷待測萬 兆光模塊的發端性能；

收端測試：所述標準萬兆光模塊發送一第二光信號至待測萬兆光模塊， 以通過所述待測萬兆光模塊進行光電轉換后輸出至誤碼儀，進而判斷測萬兆 光模塊的收端性能。

4.如權利要求3所述的應用方法，其特征在于，在準備階段，還包括對 測試系統中各器件進行的測試、點檢并記錄相關的參數。

5.如權利要求4所述的應用方法，其特征在于，所述測試包括對各鏈接 光路的插損參數測試，所述點檢包括對各儀器與標準儀器測試時得到的差異 參數，所述參數包括插損參數、差異參數、及標準萬兆光模塊的性能參數。

6.如權利要求3所述的應用方法，其特征在于，所述技術參數包括：激 光器工作時的偏置電流Ibias；

光模塊在傳輸“1”信號和“0”信號時所產生的交流電流Imod；

光模塊的信號丟失閾值Los。

7.如權利要求6所述的應用方法，其特征在于，所述偏置電流Ibias基 于以下公式獲得：

AOP＝SE*Ibias

其中，SE為激光器發光效率所對應的一常量，Ibias為偏置電流，AOP 為預定光功率。

8.如權利要求6所述的應用方法，其特征在于，所述交流電流Imod基 于以下公式獲得：

ER＝10*log((Ibias+1/2*Imod)/(Ibias–1/2*Imod))

其中，ER為光模塊的消光比，Ibias為基于預定光功率計算得出的偏置 電流。

9.如權利要求6所述的應用方法，其特征在于，在所述發端測試中，所 述光分路器基于從待測光模塊處接收到的光信號，一路通過光纖傳遞給光功 率計，以讀取一最終光功率值以確定待測萬兆光模塊發光功率是否正常；

另一路通過第一光衰減器連接至第二評估板上的標準萬兆光模塊，并通 過調整第一光衰減器的衰減大小，以使輸出至標準萬兆模塊的光功率值接近 標準萬兆光模塊的靈敏度值，以通過標準萬兆光模塊能否收到光信號進而判 斷待測萬兆光模塊的消光比是否在預定范圍內。

10.如權利要求6所述的應用方法，其特征在于，在所述收端測試中， 所述標準萬兆光模塊在PC控制板的控制下發出第二光信號至待測萬兆光模 塊，并通過調整第二光衰減器的衰減大小，通過誤碼儀測試待測萬兆光模塊 的過載，靈敏度，信號丟失閾值。