[發(fā)明專利]一種碳納米粒子檢測四氫呋喃中水分含量的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610036849.3 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105651749B | 公開(公告)日: | 2018-09-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳建;呂錕;鐘維邦;李亞;王宏;張培盛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖南科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/64 | 分類號(hào): | G01N21/64 |
| 代理公司: | 張家界市慧誠商標(biāo)專利事務(wù)所 43209 | 代理人: | 高紅旺 |
| 地址: | 411201 *** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 納米 粒子 檢測 呋喃 水分 含量 方法 | ||
1.一種碳納米粒子檢測四氫呋喃中水分含量的方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)線性回歸方程:配置不同水分含量的四氫呋喃溶液,分別加入一定量的碳納米粒子,攪拌3分鐘;測定碳納米粒子在500nm激發(fā)時(shí)的最大熒光發(fā)射波長與其對(duì)應(yīng)的熒光發(fā)射強(qiáng)度,將熒光發(fā)射波長變化或熒光強(qiáng)度變化值與四氫呋喃中水分含量值進(jìn)行線性擬合,可分別得到線性回歸方程;
(2)四氫呋喃中水分含量測定:取未知水分含量的四氫呋喃溶液加入一定量的碳納米粒子,攪拌3分鐘;測定碳納米粒子在500nm激發(fā)時(shí)的最大熒光發(fā)射波長與其對(duì)應(yīng)的熒光發(fā)射強(qiáng)度,通過與線性回歸方程對(duì)比,可得到四氫呋喃中水分含量的大小。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的碳納米粒子檢測四氫呋喃中水分含量的方法,其特征在于,步驟(1)和(2)中所述碳納米粒子在四氫呋喃溶液中的濃度為0.1mg/ml。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的碳納米粒子檢測四氫呋喃中水分含量的方法,其特征在于,所述的最大熒光發(fā)射強(qiáng)度變化值與四氫呋喃中的水分含量值的線性回歸方程ΔI/I0=0.97599+0.2889×logΦ(H2O),R2=0.993;最大熒光發(fā)射波長與四氫呋喃中的水分含量值的線性回歸方程為W/nm= 598.23348+17.27118×logΦ(H2O),R2=0.998。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的碳納米粒子檢測四氫呋喃中水分含量的方法,其特征在于,所述碳納米粒子的制備方法包括以下步驟:
(1)將對(duì)苯二胺和一定分子量的PEG按質(zhì)量比為10:1~5,配成均勻的水溶液后,于水熱反應(yīng)釜中密封,置于140~180℃的烘箱中反應(yīng)12~36小時(shí);
(2)將步驟(1)反應(yīng)得到的溶液濃縮至飽和,經(jīng)硅膠柱對(duì)產(chǎn)物進(jìn)行提純,制得一種具有四氫呋喃中水分含量檢測功能的碳納米粒子。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的碳納米粒子檢測四氫呋喃中水分含量的方法,其特征在于:所述PEG的分子量為400、600、800、1000、2000中任一種;對(duì)苯二胺與PEG的質(zhì)量比為10:2~4,烘箱溫度為150~170℃,反應(yīng)時(shí)間為20~28小時(shí)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的碳納米粒子檢測四氫呋喃中水分含量的方法,其特征在于:所述PEG的分子量為600或800;對(duì)苯二胺與PEG的質(zhì)量比為10:3,烘箱溫度為160℃,反應(yīng)時(shí)間為24小時(shí)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于湖南科技大學(xué),未經(jīng)湖南科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610036849.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





