[發明專利]TFT基板的制作方法有效
| 申請號: | 201610020660.5 | 申請日: | 2016-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN105514034B | 公開(公告)日: | 2018-11-23 |
| 發明(設計)人: | 徐向陽 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識產權代理事務所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制作 氧化物半導體層 基板 源/漏極 保護層 溝道保護層 蝕刻阻擋層 公共電極 蝕刻制程 像素電極 柵極表面 直接制作 層絕緣 緩沖層 數據線 信賴性 制作源 漏極 制程 損傷 腐蝕 覆蓋 | ||
1.一種TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉積第一透明導電層,對所述第一透明導電層進行圖案化處理,形成像素電極(2);
步驟2、在所述基板(1)、像素電極(2)上沉積第一金屬層,對所述第一金屬層進行圖案化處理,形成源/漏極(3)、數據線(31),所述數據線(31)具有形成于基板(1)的周邊區域的數據線端子(312);
步驟3、在所述基板(1)、像素電極(2)、源/漏極(3)、數據線(31)上沉積溝道保護層(4);在所述溝道保護層(4)上對應所述源/漏極(3)上方形成第一過孔(41);
步驟4、在所述溝道保護層(4)、源/漏極(3)上沉積氧化物半導體層,對所述氧化物半導體層進行圖案化處理,形成有源層(5);所述有源層(5)經由所述第一過孔(41)與所述源/漏極(3)相接觸;
步驟5、在所述溝道保護層(4)、有源層(5)上沉積柵極絕緣層(6);
步驟6、在所述柵極絕緣層(6)上沉積第二金屬層,對所述第二金屬層進行圖案化處理,形成柵極(7)、及柵極掃描線(71),所述柵極掃描線(71)具有形成于基板(1)的周邊區域的掃描線端子(712);在所述溝道保護層(4)、及柵極絕緣層(6)上對應所述數據線端子(312)上方形成第二過孔(8);
步驟7、在所述柵極絕緣層(6)、柵極(7)、及柵極掃描線(71)上沉積第二透明導電層,對所述第二透明導電層進行圖案化處理,形成公共電極(9)、分別覆蓋于柵極(7)與柵極掃描線(71)上方的保護層(91)、以及經由所述第二過孔(8)與所述數據線端子(312)相接觸的連接導線(92)。
2.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一透明導電層、第二透明導電層的厚度為所述第一金屬層、第二金屬層的厚度為
3.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述溝道保護層(4)的厚度為所述柵極絕緣層(6)的厚度為所述有源層(5)的厚度為
4.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一透明導電層、第二透明導電層的材料為ITO或IZO;所述第一金屬層、第二金屬層的材料為Cr、Mo、Al、或Cu。
5.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述溝道保護層(4)的材料為氧化硅;所述柵極絕緣層(6)的材料為氧化硅、氮化硅或二者的組合;所述有源層(5)的材料為ZnO、InZnO、ZnSnO、GaInZnO、或ZrInZnO。
6.一種TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉積緩沖層(10);
步驟2、在所述緩沖層(10)上沉積第一透明導電層,對所述第一透明導電層進行圖案化處理,形成像素電極(2);
步驟3、在所述緩沖層(10)、像素電極(2)上沉積第一金屬層,對所述第一金屬層進行圖案化處理,形成源/漏極(3)、數據線(31),所述數據線(31)具有形成于基板(1)的周邊區域的數據線端子(312);
步驟4、在所述緩沖層(10)、像素電極(2)、源/漏極(3)、數據線(31)上沉積氧化物半導體層,對所述氧化物半導體層進行圖案化處理,形成有源層(5);所述有源層(5)與所述源/漏極(3)相接觸;
步驟5、在所述緩沖層(10)、像素電極(2)、源/漏極(3)、數據線(31)、有源層(5)上沉積柵極絕緣層(6);
步驟6、在所述柵極絕緣層(6)上沉積第二金屬層,對所述第二金屬層進行圖案化處理,形成柵極(7)、及柵極掃描線(71),所述柵極掃描線(71)具有形成于基板(1)的周邊區域的掃描線端子(712);在所述柵極絕緣層(6)上對應所述數據線端子(312)上方形成第三過孔(81);
步驟7、在所述柵極絕緣層(6)、柵極(7)、及柵極掃描線(71)上沉積第二透明導電層,對所述第二透明導電層進行圖案化處理,形成公共電極(9)、分別覆蓋于柵極(7)與柵極掃描線(71)上方的保護層(91)、以及經由所述第三過孔(81)與所述數據線端子(312)相接觸的連接導線(92)。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





