[發明專利]一種新型光譜儀

在審

• 申請號: 201610016589.3
• 申請日: 2016-01-12
• 公開（公告）號: CN105547479A
• 公開（公告）日: 2016-05-04
• 發明（設計）人: 蔡元學
• 申請（專利權）人: 天津納正科技有限公司
• 主分類號: G01J3/45
• 分類號: G01J3/45
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種新型光譜儀，包括光譜儀內部(1)、聚焦鏡(2)、陣列檢測器(3)、 光柵(4)、準直鏡(5)、光柵接頭(6)、入射光線(7)、入射狹縫(8)、 干涉儀(9)、光譜儀光學系統(10)、光電傳感器(11)、外圍處理器(12)、 數據采集卡(13)、工控機處理平臺(14)、后臺處理程序(15)、反饋控制電 路(16)、反饋控制鏡(17)和折射光線(18)，其特征在于，所述光線經過光 柵接頭(6)到達準直鏡(5)折射到光柵(4)折射到聚焦鏡(2)又折射到陣列 檢測器(3)，所述光譜儀光學系統(10)包括干涉儀(9)和光電傳感器(11)， 所述工控機處理平臺(14)包括數據采集卡(13)和后臺處理程序(15)，所述 外圍處理器(12)里面有反饋控制電路(16)。

2.根據權利要求1所述的一種新型光譜儀，其特征在于，所述光柵接頭(6) 的光經過入射狹縫(8)到達準直鏡(5)進行折射。

3.根據權利要求1所述的一種新型光譜儀，其特征在于，所述光譜儀內部 (1)包括聚焦鏡(2)、陣列檢測器(3)、光柵(4)、準直鏡(5)和光柵接 頭(6)。

4.根據權利要求1所述的一種新型光譜儀，其特征在于，所述光經過干涉 儀(9)到達光電傳感器(11)里。

5.根據權利要求1所述的一種新型光譜儀，其特征在于，所述外圍處理器 (12)里的反饋控制電路(16)將得到的信號經過反饋控制鏡(17)到達光譜儀 光學系統(10)。

6.根據權利要求1所述的一種新型光譜儀，其特征在于，所述工控機處理 平臺(14)里的數據采集卡(13)和后臺處理程序(15)雙向連接。