[發(fā)明專利]觸控模組檢測與優(yōu)化方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610016273.4 | 申請日: | 2016-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN105718107B | 公開(公告)日: | 2019-04-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李培煜 | 申請(專利權(quán))人: | 北京集創(chuàng)北方科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京成創(chuàng)同維知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449 | 代理人: | 范芳茗;高青 |
| 地址: | 100088 北京市海淀區(qū)北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 模組 檢測 優(yōu)化 方法 | ||
一種觸控模組的檢測與優(yōu)化方法,適用于一個包含多個觸控單元的觸控模組,每一個觸控單元偵測一個電容的電荷變化而獲得一個原始數(shù)值。該觸控模組的檢測與優(yōu)化方法藉由該觸控模組對于每一個觸控單元:獲得多個顯示單元所分別顯示的多個灰階的數(shù)值;計算該顯示單元所顯示的該灰階的數(shù)值分別在多個區(qū)間的次數(shù);根據(jù)該觸控單元的該原始數(shù)值、在該區(qū)間的該次數(shù)、及多個補償系數(shù),計算而獲得該觸控單元的一個校正數(shù)值。該校正數(shù)值能有效地補償該原始數(shù)值由于該顯示單元所包括的多個液晶電容對該對應(yīng)的顯示單元所偵測的電容的影響所產(chǎn)生的誤差。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種優(yōu)化方法,特別是指一種觸控模組的檢測與優(yōu)化方法。
背景技術(shù)
將平面顯示器(Flat Panel Display)與觸控功能相結(jié)合的觸控屏幕已經(jīng)廣泛地應(yīng)用在我們的生活中,例如智能型手機、平板電腦、筆記本電腦等等。在多種實現(xiàn)觸控屏幕的技術(shù)中,采用投射式電容觸控(Projected Capacitive Touch)技術(shù)以實現(xiàn)多點觸控,并采用內(nèi)嵌式(On-cell,In-Cell等)的設(shè)計方式,將觸控傳感器直接整合入平面顯示器的生產(chǎn)制程中,以使得觸控屏幕更為輕薄且透光率高,更能符合行動裝置的需求與趨勢。然而,由于內(nèi)嵌式的設(shè)計方式是將觸控傳感器的相關(guān)電路整合在平面顯示器的薄膜晶體管的基板上,導(dǎo)致觸控傳感器所偵測到的觸控信號會受到平面顯示器的驅(qū)動信號的干擾而具有誤差,也因而成為一個待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的目的,在于提供一種觸控模組的檢測與優(yōu)化方法。
于是,本發(fā)明觸控模組的檢測與優(yōu)化方法,適用于一個包含多個觸控單元的觸控模組,每一個觸控單元偵測一個電容的電荷變化而獲得一個原始數(shù)值,該觸控模組的檢測與優(yōu)化方法藉由該觸控模組對于每一個觸控單元來實施,并包含步驟(a)、(b)、及(c)。
步驟(a),獲得多個顯示單元所分別顯示的多個灰階的數(shù)值。每一個顯示單元包括一個液晶電容,且該液晶電容的大小會影響該觸控單元所偵測的該電容的大小。
步驟(b),計算該顯示單元所顯示的該灰階的數(shù)值分別在多個區(qū)間的次數(shù)。
步驟(c),根據(jù)該觸控單元的該原始數(shù)值、在該區(qū)間的該次數(shù)、及多個補償系數(shù),計算而獲得該觸控單元的一個校正數(shù)值。
在一些實施例中,其中,在步驟(b)中,該區(qū)間的范圍彼此不重迭,且該區(qū)間的集合為0與一個灰階最大值之間的所有整數(shù)。
在一些實施例中,其中,在步驟(c)中,定義該原始數(shù)值為D0、該校正數(shù)值為D、該補償系數(shù)分別為C1、C2、C3、...Ck,該區(qū)間分別為一個第一區(qū)間、一個第二區(qū)間、一個第三區(qū)間、...一個第k區(qū)間,分別在該第一區(qū)間、該第二區(qū)間、該第三區(qū)間、...該第k區(qū)間的該次數(shù)為N1、N2、N3、...Nk,k為正整數(shù)且為該區(qū)間的總數(shù),則D=D0+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+Ck*Nk,C1、C2、C3、...Ck為實數(shù),N1、N2、N3、...Nk為正整數(shù)。
本發(fā)明的有益效果在于藉由該觸控模組獲得會影響該觸控單元的該顯示單元的該灰階的數(shù)值,并根據(jù)該觸控單元的該原始數(shù)值、該灰階的數(shù)值分別落在該區(qū)間的次數(shù)、及該補償系數(shù),計算而得一個校正數(shù)值。
附圖說明
圖1是一個示意圖,說明現(xiàn)有技術(shù)的一個液晶分子所顯示的灰階數(shù)值與該液晶分子的電容值之間的對應(yīng)關(guān)系;
圖2是一個流程圖,說明本發(fā)明觸控模組的檢測與優(yōu)化方法的一個實施例;
圖3是一個示意圖,說明該實施例所適用的一個觸控單元及多個顯示單元之間的相對關(guān)系。
其中,S1~S3是步驟,8是顯示單元,9是觸控單元。
具體實施方式
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
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G06F3-01 .用于用戶和計算機之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出





