[發明專利]觸控模組檢測與優化方法

有效

• 申請號: 201610016273.4
• 申請日: 2016-01-12
• 公開（公告）號: CN105718107B
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 李培煜
• 申請（專利權）人: 北京集創北方科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449
• 代理人: 范芳茗;高青

1.一種觸控模組的檢測與優化方法，該觸控模組的檢測與優化方法藉由一個觸控模組來實施，所述觸控模組包括多個觸控單元，每一個觸控單元偵測一個電容的電荷變化而獲得一個原始數值，所述檢測與優化方法包含對于每一個觸控單元執行下列步驟：

(a)獲得該觸控單元對應的多個顯示單元所分別顯示的多個灰階的數值；

(b)計算所述多個灰階的數值分別在多個區間的次數；及

(c)至少根據在每個區間的該次數、及多個補償系數，計算而獲得該觸控單元的一個校正數值，其中，定義該原始數值為D0、該校正數值為D、該補償系數分別為C1、C2、C3、...Ck，該區間分別為一個第一區間、一個第二區間、一個第三區間、...一個第k區間，分別在該第一區間、該第二區間、該第三區間、...該第k區間的該次數為N1、N2、N3、...Nk，k為正整數且為該區間的總數，則D＝D0+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+Ck*Nk，C1、C2、C3、...Ck為實數，N1、N2、N3、...Nk為正整數，

在步驟(b)中，該區間的范圍彼此不重迭，且該區間的集合為0與一個灰階最大值之間的所有整數。

2.如權利要求1所述的觸控模組的檢測與優化方法，其中，在步驟(a)中，每一個顯示單元包括一個液晶電容，且該液晶電容的大小會影響該觸控單元所偵測的該電容的大小。

3.如權利要求2所述的觸控模組的檢測與優化方法，其中，當步驟(a)中的該顯示單元所分別顯示的灰階為8位時，則在步驟(b)中的該灰階最大值為255。