[發明專利]一種鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統及其使用方法

有效

• 申請號: 201610006455.3
• 申請日: 2016-01-07
• 公開（公告）號: CN105486725B
• 公開（公告）日: 2018-11-09
• 發明（設計）人: 鄭許;鄭玉林;周文標;陳翊翀;彭斐
• 申請（專利權）人: 廣西南南鋁加工有限公司
• 主分類號: G01N27/04
• 分類號: G01N27/04
• 代理公司: 南寧東智知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 45117
• 代理人: 巢雄輝;盧玉恒

1.一種鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統，包括支架，其特征在于，所述支架中間設有運送鋁合金預拉伸板（13）的輸送輥道（14），支架中間還安裝有工作試塊組（15），且與輸送輥道（14）水平平行；在輸送輥道（14）上方的支架上安裝有上滑動塊，在輸送輥道（14）下方的支架上安裝有下滑動塊，上滑動塊連接上位探頭支座（6），所述上位探頭支座（6）的底端面安裝有上位渦流電導率探頭（9），下滑動塊連接下位探頭支座（7），所述下位探頭支座（7）的上端面安裝有下位渦流電導率探頭（10）；所述上位渦流電導率探頭（9）與上位渦流電導率儀（20）連接，下位渦流電導率探頭（10）與下位渦流電導率儀（21）連接；

所述上位探頭支座（6）安裝有牛眼萬向球（8），且牛眼萬向球（8）與上位渦流電導率探頭（9）安裝在同一端面；下位探頭支座（7）安裝有牛眼萬向球（8），且牛眼萬向球（8）與下位渦流電導率探頭（10）安裝在同一端面;

所述支架為龍門架（1）；支架的一端還安裝有電氣柜（11）；所述上滑動塊包括上位軌道（2）和與上位軌道（2）匹配的上位伸縮機械臂（4）；所述下滑動塊包括下位軌道（3）和與下位軌道（3）匹配的下位伸縮機械臂（5）；所述上位伸縮機械臂（4）末端安裝有上位探頭支座（6），所述下位伸縮機械臂（5）末端安裝有下位探頭支座（7）；所述電氣柜（11）上還設有人機界面（12）；電氣柜（11）兩端通過上位履帶式線纜（18）、下位履帶式線纜（19）分別與上位渦流電導率儀（20）、下位渦流電導率儀（21）連接。

2.根據權利要求1所述的鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統，其特征在于：所述龍門架（1）的入口處還安裝有激光傳感器（16）和旋轉編碼器（17），對應連接電氣柜（11）。

3.根據權利要求1所述的鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統，其特征在于：所述上位渦流電導率探頭（9）、下位渦流電導率探頭（10）均為脈沖式渦流探頭。

4.根據權利要求3所述的鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統，其特征在于：所述脈沖式渦流探頭的頻率為50kHz-100kHz。

5.根據權利要求1所述的鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統，其特征在于：所述上位渦流電導率探頭（9）和下位渦流電導率探頭（10）與鋁合金預拉伸板（13）表面的距離為0.25mm-1.5mm。

6.根據權利要求1所述的鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統，其特征在于： 所述工作試塊組（15）由2-4塊電導率試塊組成。

7.根據權利要求1所述的鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統，其特征在于：還包括用于校準工作試塊組（15）的實驗室試塊組（22）；所述實驗室試塊組（22）由6塊電導率試塊組成。

8.如權利要求1~7任一項所述的鋁合金預拉伸板電導率值的檢測系統的使用方法，其特征在于：包括以下具體步驟：

第一步，建立提離-溫度抑制數據庫；

第二步，在設備中輸入鋁合金預拉伸板材的幾何尺寸、合金牌號、合金狀態及電導率驗收上下限信息；

第三步，根據現場溫度，設置系統溫度補償，現場溫度為5℃~40℃，當進行系統校準時溫度為20℃±1℃，當現場溫度與校準溫度有差異時啟動溫度補償程序進行補償，溫度補償程序在溫度恒定的空間中讓儀器和工作試塊組（15）靜置30分鐘以上，然后使用電導率儀讀取工作試塊組（15）上的電導率數值，獲取補償系數；

第四步，將上位渦流電導率探頭（9）和下位渦流電導率探頭（10）移動到附近無導電物質的區域進行標定；

第五步，將上位渦流電導率探頭（9）和下位渦流電導率探頭（10）移動到工作試塊組（15）上進行標定；

第六步，將上位渦流電導率探頭（9）和下位渦流電導率探頭（10）移動到鋁合金預拉伸板（13），對鋁合金預拉伸板的上表面、下表面進行連續柵格式掃描；所述柵格式掃描的目的是采集板材橫向上的電導率值，具體方法為在柵格的橫向，每間隔5mm-100mm采集一個電導率數據點；在柵格的縱向，每間隔20mm-600mm采集一排橫向的電導率數據點，縱向移動過程中停止采集電導率數據點；所述橫向為通過與上位軌道（2）和下位軌道（3）分別匹配的上位渦流電導率探頭（9）、下位渦流電導率探頭（10）移動進行掃描；所述縱向為通過輸送輥道（14）支撐并驅使鋁合金預拉伸板（13）沿著縱向移動；所述柵格式掃描的過程中每隔15分鐘需在工作試塊組（15）上進行一次標定。