[發明專利]一種用于檢驗非易失存儲單元受干擾的方法及裝置有效
| 申請號: | 201610006347.6 | 申請日: | 2016-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN105702293B | 公開(公告)日: | 2019-09-17 |
| 發明(設計)人: | 蘇香 | 申請(專利權)人: | 上海芯澤電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/34 | 分類號: | G11C16/34;G11C16/14 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 201204 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 檢驗 非易失 存儲 單元 干擾 方法 裝置 | ||
1.一種用于檢驗非易失存儲單元受干擾的方法,其適用于非易失存儲單元,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
a)設置計數器的計數值為一預設值;
b)接收擦除塊指令,所述擦除塊指令中包含相應擦除塊的地址信息;
c)根據所述相應擦除塊的地址信息執行擦除操作;
d)根據計數器的當前計數值以確定所述相應擦除塊所在的同一個塊組的相應干擾塊;
e)對所述相應干擾塊進行修復操作;
f)將計數器的計數值加1,并返回步驟b);
在步驟a)之前進一步包括:劃分多個塊組,每一所述塊組包括多個塊;其中在劃分塊組的過程中,以四的倍數將多個塊構成一塊組。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在步驟e)中進一步包括步驟:
e1)在所述相應干擾塊中逐一查找存儲單元,并且判斷每一所述存儲單元的干擾標記位;e2)當干擾標記位為有效時,則執行修復相應存儲單元的操作,并且更新干擾標記位。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述計數器的位數是根據每一塊組中的塊的數目而確定的。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在步驟d)和步驟e)之間進一步包括以下步驟:
判斷所述相應干擾塊是否為所述相應擦除塊;
若是,則執行步驟f),否則執行步驟e)。
5.一種用于檢驗非易失存儲單元受干擾的裝置,其特征在于,包括以下模塊:
計數器初始模塊,用于設置計數器的計數值為一預設值;
擦除指令接收模塊,與所述計數器初始模塊相連,所述擦除指令接收模塊用于接收擦除塊指令,所述擦除塊指令中包含相應擦除塊的地址信息;
擦除操作執行模塊,與所述擦除指令接收模塊相連,所述擦除操作執行模塊用于根據所述相應擦除塊的地址信息執行擦除操作;
干擾塊定位模塊,與所述擦除操作執行模塊相連,所述干擾塊定位模塊用于根據計數器的當前計數值以確定所述相應擦除塊所在的同一個塊組的相應干擾塊;
干擾塊修復模塊,與所述干擾塊定位模塊相連,所述干擾塊修復模塊用于對所述相應干擾塊進行修復操作;
計數器增值模塊,分別與所述干擾塊修復模塊和所述擦除指令接收模塊相連,所述計數器增值模塊用于將計數器的計數值加1,并調用所述擦除指令接收模塊;
所述裝置進一步包括:塊組設置模塊,所述塊組設置模塊與所述計數器初始模塊相連,所述塊組設置模塊用于劃分多個塊組,每一所述塊組包括多個塊;其中在劃分塊組的過程中,以四的倍數將多個塊構成一塊組。
6.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述干擾塊修復模塊包括:
干擾標記位判斷單元,用于在所述相應干擾塊中逐一查找存儲單元,并且判斷每一所述存儲單元的干擾標記位;
干擾標記位更新單元,與所述干擾標記位判斷單元相連,所述干擾標記位更新單元用于當干擾標記位為有效時,則執行修復相應存儲單元的操作,并且更新干擾標記位。
7.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述計數器的位數是根據每一塊組中的塊的數目而確定的。
8.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述裝置進一步包括:干擾塊排除模塊,分別與所述干擾塊定位模塊、所述干擾塊修復模塊和所述計數器增值模塊相連,所述干擾塊排除模塊用于判斷所述相應干擾塊是否為所述相應擦除塊,若是,則調用所述計數器增值模塊,否則調用所述干擾塊修復模塊。
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