[發(fā)明專利]一種影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu)與實(shí)現(xiàn)工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610002545.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105448946A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 秦飛;別曉銳;史戈;安彤;肖智軼 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 劉萍 |
| 地址: | 100124 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 影像 傳感 芯片 封裝 結(jié)構(gòu) 實(shí)現(xiàn) 工藝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體芯片封裝結(jié)構(gòu)及其制作方法,尤其涉及一種影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu)及其制作方法,屬于半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域。
背景技術(shù)
影像傳感芯片是一種半導(dǎo)體模塊,是一種將光學(xué)影像轉(zhuǎn)換成為電子信號(hào)的設(shè)備,電子信號(hào)可以用來(lái)進(jìn)一步處理或數(shù)字化后進(jìn)行存儲(chǔ),或用于將影像傳遞至顯示裝置進(jìn)行顯示等。它被廣泛應(yīng)用于數(shù)碼相機(jī)和其他電子光學(xué)設(shè)備中。影像傳感芯片主要分為電荷耦合器件(CCD)和CMOS影像傳感器(CIS)兩類。雖然CCD影像傳感器在影像質(zhì)量以及噪聲等方面優(yōu)于CMOS影像傳感器,但是CMOS傳感器可用傳統(tǒng)的半導(dǎo)體生產(chǎn)技術(shù)制造,生產(chǎn)成本較低。同時(shí)由于所用的元件數(shù)相對(duì)較少以及信號(hào)傳輸距離短,CMOS影像傳感器具備功耗低、電容、電感和寄生延遲降低等優(yōu)點(diǎn)。
隨著各種先進(jìn)封裝技術(shù)的出現(xiàn),影像傳感芯片的封裝形式也向著更輕、更薄、更便攜的方向發(fā)展,同時(shí)也要求更高的性能、更快的速度以及更低的成本。
目前的影響傳感芯片結(jié)構(gòu)一般利用支撐墻(高分子材料)將芯片與玻璃蓋板的四周粘接在一起,同時(shí)需要在芯片感光區(qū)與玻璃蓋板之間留有一定的距離,這就要求支撐墻必須具有一定的厚度。然而由于目前采用的支撐墻強(qiáng)度和剛度較小,且厚度均一性較差,不足以保證芯片感光區(qū)與玻璃蓋板之間有足夠的距離,一般僅有30~50μm,并且會(huì)造成芯片與玻璃蓋板接合處平整度差和玻璃表面不平整等問(wèn)題。另外,由于支撐墻材料與其他材料的熱膨脹系數(shù)差異較大,使得支撐墻與其他材料的界面處容易發(fā)生由熱應(yīng)力引起的裂紋、分層等問(wèn)題,從而導(dǎo)致產(chǎn)品失效。除此以外,現(xiàn)有的影像傳感芯片結(jié)構(gòu)一般將芯片感光區(qū)的信號(hào)經(jīng)由芯片四周的硅通孔或者硅槽通過(guò)金屬線路傳遞至芯片背面,信號(hào)傳遞路徑較長(zhǎng),信號(hào)延遲較為嚴(yán)重。
因此,迫切需要一種高可靠性、高性能的影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服上述不足,提供一種影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu)及其制作方法,通過(guò)本發(fā)明實(shí)施的封裝結(jié)構(gòu),可以保證芯片與玻璃蓋板之間有足夠的間距,可以改善芯片與玻璃蓋板的分層問(wèn)題,能夠縮短信號(hào)傳遞路徑,提高芯片速度。
本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
一種影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
影像傳感芯片104,所述影像傳感芯片具有感光區(qū)100a、芯片鈍化層100b、芯片焊盤(pán)100c和芯片凸點(diǎn)下金屬層100d,所述芯片凸點(diǎn)下金屬層上制作有芯片微凸點(diǎn)119;
透明基板105,所述透明基板一側(cè)依次沉積有金屬鈦層106、金屬銅層107和基板鈍化層109,所述透明基板外側(cè)制作有基板微凸點(diǎn)121,所述透明基板中間位置留有透光區(qū)116。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述的影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述影像傳感芯片104通過(guò)芯片微凸點(diǎn)119與透明基板105實(shí)現(xiàn)互連,芯片感光區(qū)100a面向透明基板并與透光區(qū)116對(duì)中。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述的影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述芯片鈍化層100b可以是氧化硅、氮化硅、聚酰亞胺PI等材質(zhì)。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述的影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述芯片微凸點(diǎn)119可以是銅微凸點(diǎn)或者金微凸點(diǎn)。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述的影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述透明基板105可以是玻璃、石英、陶瓷等材質(zhì)。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述的影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述基板鈍化層109可以是氧化硅、氮化硅、聚酰亞胺PI等材質(zhì)。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述的影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述基板微凸點(diǎn)121可以是銅微凸點(diǎn)或者金微凸點(diǎn)。
一種影像傳感芯片封裝結(jié)構(gòu)的實(shí)現(xiàn)工藝,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1,提供一晶圓100,所述晶圓功能面為正面,與其相反的一面為反面。正面具有感光區(qū)100a、芯片鈍化層100b、若干芯片焊盤(pán)100c,所述芯片焊盤(pán)上形成有芯片凸點(diǎn)下金屬層100d;
步驟2,于所述晶圓100正面涂覆第一光阻層101,并通過(guò)曝光、顯影制程在與芯片凸點(diǎn)下金屬層對(duì)應(yīng)處形成第一光阻層第一開(kāi)口110以暴露底部的芯片凸點(diǎn)下金屬層100d;
步驟3,于所述第一光阻層第一開(kāi)口110內(nèi)沉積芯片銅凸點(diǎn)102,凸點(diǎn)高度為50~100μm;
步驟4,于所述芯片銅凸點(diǎn)102上沉積芯片焊料層103,焊料層厚度為10~20μm;
步驟5,去除第一光阻層101,并將所述芯片焊料層103進(jìn)行回流形成芯片微凸點(diǎn)119;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





