[發明專利]預測儲層性質的方法、系統及設備

在審

• 申請號: 201580079118.0
• 申請日: 2015-02-23
• 公開（公告）號: CN108138555A
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: 弗雷德里克·戴維·格雷;德拉加納·托多羅維奇-馬里尼克;拜倫·馬修·凱利
• 申請（專利權）人: 奈克森能量無限責任公司
• 主分類號: E21B43/00
• 分類號: E21B43/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京市安倫律師事務所 11339
• 代理人: 楊永波;韓景漫

本申請公開了預測地層碳氫化合物生產率的方法、設備及機讀媒介。方法包括：通過至少一臺處理器根據自地層內至少一口井收集的數據接收或生成測井曲線；根據所述測井曲線生成所述至少一口井的預測生產率測井曲線；通過所述至少一臺處理器接收地層現場數據組，所述現場數據組包括一定體積的地層三維空間中的數個地點的現場數據；將所述至少一口井的預測生產率測井曲線識別為一個或多個目標，確定關于所述現場數據與所述至少一口井的預測生產率測井曲線的變換公式；以及利用所述變換公式，生成一定體積的地層中各地點的預測生產率。

技術領域

本申請涉及儲層建模領域，具體涉及基于收集的物理數據構建地下動態儲層性質模型的方法、系統及設備。

背景技術

碳氫化合物勘探涉及井數量、間隔（及相關成本）與數據精確度之間的權衡，而數據精確度可能影響產量預測與資源開發規劃。由大量井獲取的地質性質往往采用一定地區的平均性質提供儲層評估。舉例來說，基于均值的評估可能提供地層地質變化的有限圖示。

發明內容

根據一方面，本申請提供了一種預測地層碳氫化合物生產率的方法。所述方法包括：通過至少一臺處理器根據自地層內至少一口井收集的數據接收或生成測井曲線；根據所述測井曲線生成所述至少一口井的預測生產率測井曲線（predicted production ratelog）；通過所述至少一臺處理器接收地層現場數據組，所述現場數據組包括一定體積的地層三維空間中的數個地點的現場數據；將所述至少一口井的預測生產率測井曲線（predicted production rate log）識別為一個或多個目標，確定關于所述現場數據與所述至少一口井的預測生產率測井曲線的變換公式；以及利用所述變換公式，生成一定體積的地層中各地點的預測生產率。

根據另一方面，本申請提供了一種預測地層碳氫化合物生產率的設備。所述設備包括至少一臺處理器，其設置為：根據自地層內至少一口井收集的數據接收或生成測井曲線；根據所述測井曲線生成所述至少一口井的預測生產率測井曲線（predictedproduction rate log）；接收地層現場數據組，所述現場數據組包括一定體積的地層三維空間中數個地點的現場數據；將所述至少一口井的預測生產率測井曲線識別為一個或多個目標，確定關于所述現場數據與所述至少一口井的預測生產率測井曲線的變換公式；以及利用所述變換公式，生成一定體積的地層中各地點的預測生產率。

根據另一方面，本申請提供了一種存有機讀指令的永久性機讀媒介或媒體。所述機讀指令由至少一臺處理器執行時，將所述至少一臺處理器設置為：根據自地層內至少一口井收集的數據接收或生成測井曲線；根據所述測井曲線生成所述至少一口井的預測生產率測井曲線（predicted production rate log）；接收地層現場數據組，所述現場數據組包括一定體積的地層三維空間中的數個地點的現場數據；將所述至少一口井的預測生產率測井曲線識別為一個或多個目標，確定關于所述現場數據與所述至少一口井的預測生產率測井曲線的變換公式；以及利用所述變換公式，生成一定體積的地層中各地點的預測生產率。

本領域技術人員閱讀本申請后，可了解關于此處所述實施例的數個其他特征及其組合。

附圖說明

附圖中，

圖1為一示例地質構造與井的剖面圖；

圖2示出了一示例系統，本申請各方面可應用于其中；

圖3、4為包括示例能源與傳感器的示例地質構造剖面圖；

圖5、6、7為說明預測儲層性質的示例方法的流程圖；

圖8為顯示示例測井曲線數據的圖表；

圖9為顯示示例線性回歸的圖表；

圖10為沿井并貫穿示例地質構造顯示的示例預測生產率三維可視化示圖；