[發(fā)明專利]預(yù)測(cè)儲(chǔ)層性質(zhì)的方法、系統(tǒng)及設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201580079118.0
• 申請(qǐng)日: 2015-02-23
• 公開（公告）號(hào): CN108138555A
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 弗雷德里克·戴維·格雷;德拉加納·托多羅維奇-馬里尼克;拜倫·馬修·凱利
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 奈克森能量無限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): E21B43/00
• 分類號(hào): E21B43/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京市安倫律師事務(wù)所 11339
• 代理人: 楊永波;韓景漫

1.一種預(yù)測(cè)地層碳?xì)浠衔锷a(chǎn)率的方法，包括：

通過至少一臺(tái)處理器根據(jù)自地層內(nèi)至少一口井收集的數(shù)據(jù)接收或生成測(cè)井曲線；

根據(jù)所述測(cè)井曲線生成所述至少一口井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線；

通過所述至少一臺(tái)處理器接收地層現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)組，所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)組包括一定體積的地層三維空間中的數(shù)個(gè)地點(diǎn)的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)；

將所述至少一口井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線識(shí)別為一個(gè)或多個(gè)目標(biāo)，確定關(guān)于所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)與所述至少一口井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線的變換公式；以及

利用所述變換公式，生成一定體積的地層中各地點(diǎn)的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，確定所述變換公式包括應(yīng)用線性回歸、遺傳算法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分析法或多參數(shù)估算法中的至少一種。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)井曲線包括孔隙度、飽和度、滲透率、瀝青柱高度等的測(cè)井曲線。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)包括地震數(shù)據(jù)、重力數(shù)據(jù)、電阻率數(shù)據(jù)或電磁數(shù)據(jù)中的至少一種。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)包括廣角地震數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述廣角地震數(shù)據(jù)從入射角大于45°的地震波中收集。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)包括密度數(shù)據(jù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于以下方程式通過測(cè)井曲線生成預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線：

其中，C為常數(shù)，L代表井水平長(zhǎng)度，Φ代表部分孔隙度，ΔS_O代表初始油飽和度與蒸發(fā)殘余油飽和度的差值，K代表滲透率，H代表儲(chǔ)層高度。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，包括：利用至少部分地層中對(duì)應(yīng)體積中的數(shù)個(gè)地點(diǎn)的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率，生成至少部分地層的三維圖示。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，包括：利用地層中已識(shí)別的泄油面積或已定位的井的位置對(duì)應(yīng)體積中數(shù)個(gè)地點(diǎn)的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率確定已識(shí)別面積或已定位井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，包括：確定常數(shù)因子C，以生成所述至少一口井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線與一定體積地層中各地點(diǎn)的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率；其中，基于估量或模擬的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)確定所述常數(shù)因子C。

12.一種預(yù)測(cè)地層碳?xì)浠衔锷a(chǎn)率的設(shè)備，所述設(shè)備包括至少一臺(tái)處理器，所述至少一臺(tái)處理器設(shè)置為：

根據(jù)自地層內(nèi)至少一口井收集的數(shù)據(jù)接收或生成測(cè)井曲線；

根據(jù)所述測(cè)井曲線生成所述至少一口井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線；

接收地層現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)組，所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)組包括一定體積的地層三維空間中數(shù)個(gè)地點(diǎn)的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)；

將所述至少一口井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線識(shí)別為一個(gè)或多個(gè)目標(biāo)，確定關(guān)于所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)與所述至少一口井的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率測(cè)井曲線的變換公式；以及

利用所述變換公式，生成一定體積的地層中各地點(diǎn)的預(yù)測(cè)生產(chǎn)率。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，確定所述變換公式包括應(yīng)用線性回歸、遺傳算法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分析法或多參數(shù)估算法中的至少一種。

14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，

所述測(cè)井曲線包括孔隙度、飽和度、滲透率、瀝青柱高度等的測(cè)井曲線。

15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其特征在于，

所述現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)包括地震數(shù)據(jù)、重力數(shù)據(jù)、電阻率數(shù)據(jù)或電磁數(shù)據(jù)中的至少一種。