[發明專利]微晶磨皮裝置有效
| 申請號: | 201580076403.7 | 申請日: | 2015-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN107708583B | 公開(公告)日: | 2020-06-26 |
| 發明(設計)人: | M·朱納;L·G·M·貝簡斯;F·G·P·皮特斯 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | A61B17/32 | 分類號: | A61B17/32;A61B17/00 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 鄭立柱;范懷志 |
| 地址: | 荷蘭艾恩*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微晶磨皮 裝置 | ||
1.用于微晶磨皮處理的裝置,包括:
處理頭(16),所述處理頭具有腔(18)、開口(22)和處理頭尖端(24),所述腔(18)具有內壁(20),所述開口(22)在所述內壁中,所述處理頭尖端(24)用于將所述處理頭(16)放置在用戶的皮膚(48)上,
其中所述處理頭尖端(24)包括第一研磨表面(26),并且所述內壁(20)包括第二研磨表面(28),
其中所述開口(22)配置成與真空源(30)連接,以用于當所述處理頭尖端(24)放置在用戶的皮膚(48)上時,在所述腔(18)內施加負壓(58),并且
其中所述第一研磨表面(26)包括與所述第二研磨表面(28)不同的粗糙度;
其中所述裝置被配置為當所述負壓(58)被施加到所述腔(18)時,所述第二研磨表面(28)僅接觸所述用戶的皮膚(48);以及
其中所述腔(18)具有實質上穹頂狀形狀,所述穹頂狀形狀具有環形環繞部,并且其中所述處理頭尖端(24)由所述環形環繞部形成,以及所述內壁(20)由所述穹頂狀形狀的內表面形成。
2.根據權利要求1所述的裝置,其中所述第二研磨表面(28)的粗糙度高于所述第一研磨表面(26)的粗糙度。
3.根據權利要求1至2中任一項所述的裝置,其中所述處理頭尖端(24)布置在所述腔(18)的第一側上,并且所述開口(22)布置在所述腔(18)的相對側上,并且其中所述第二研磨表面(28)的粗糙度朝向所述開口(22)增加。
4.根據權利要求1至2中任一項所述的裝置,其中所述第一研磨表面(26)橫向于所述第二研磨表面(28)布置。
5.根據權利要求1至2中任一項所述的裝置,其中所述開口(22)限定開口軸線(54),并且其中所述第一研磨表面(26)和所述第二研磨表面(28)圍繞所述開口軸線(54)同中心地布置。
6.根據權利要求5所述的裝置,其中所述第二研磨表面(28)比所述第一研磨表面(26)更靠近所述開口軸線(54)布置。
7.根據權利要求1、2和6中任一項所述的裝置,其中所述處理頭尖端(24)和所述腔(18)被布置成形成單個整體部件(46)。
8.根據權利要求1、2和6中任一項所述的裝置,其中所述第二研磨表面(28)被分成多個相鄰段(62),所述段(62)具有各自不同研磨特性。
9.根據權利要求1、2和6中任一項所述的裝置,其中所述第二研磨表面(28)包括尖銳物體(72),所述尖銳物體(72)從所述第二研磨表面(28)突出。
10.根據權利要求9所述的裝置,其中所述尖銳物體(72)從所述表面突出并且具有在5μm至25μm之間的長度。
11.根據權利要求1、2、6和10中任一項所述的裝置,還包括真空源(30),所述真空源(30)連接至所述開口(22)。
12.根據權利要求11所述的裝置,還包括控制器(38),所述控制器(38)被配置成控制所述真空源(30)在所述腔(18)內施加交替的負壓。
13.根據權利要求1、2、6、10和12中任一項所述的裝置,其中所述內壁(20)包括柔性段(78)。
14.根據權利要求13所述的裝置,其中所述第二研磨表面(28)布置在所述柔性段(78)上。
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