[發明專利]用于放射成像的裝置、系統和方法

有效

• 申請號: 201580070073.0
• 申請日: 2015-12-25
• 公開（公告）號: CN107530036B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 張宏軍
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;G01N23/00
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 劉葛

提供一種放射成像系統和方法。該系統包括放射源、探測器(605,803,1303)和第一格柵元件(603,703,1301)。探測器(605,803,1303)上包含許多探測器單元(802)。第一格柵元件(603,703,1301)的位置在放射源和探測器單元(802)之間。第一格柵元件(603,703,1301)包括許多個射線穿過區(603?B)。放射源發出的射線穿過第一格柵元件(603,703,1301)上的至少一個射線穿過區(603?B)，并由至少一個探測器單元(802)上的有效區域(901)接收到。通過調節第一格柵元件(603,703,1301)可以調節有效區域(901)。放射源、第一格柵元件(603,703,1301)和探測器單元(802)相結合可用于檢測一個目標。該方法可以包括通過調節第一格柵元件(603,703,1301)來調節探測器(605,803,1303)上的有效區域(901)。

技術領域

本發明總體涉及一種放射成像系統。具體而言，為探測器和一個網格輻射成像系統包括一個檢測器。附加格柵元件的探測器，以及包含這種探測器的放射成像系統。

背景技術

放射檢測和成像系統可用于許多領域，如醫學診斷與治療、工業生產和應用、科學實驗和研究、國家安全等。一般來說，放射檢測和成像指的是通過射線實現非侵入地觀察對象的內部情況的技術。在這里，放射可以包括一種特定射線(例如，中子、質子、電子、μ-meson、重離子等)，或光子射線(例如、x射線、γ射線、α射線、β射線、紫外線、激光等)，或者其他類似的射線，或是這些射線的組合。通過放射成像系統在不損傷目標的情況下可獲取的信息可能包括結構、密度、損傷狀況等。這里所說的“目標”指的可能是物質、組織、器官、人體，或類似物，或是這些的組合。有時也用詞語“對象”來替代詞語“目標”。在對不同的目標成像時，所要求的空間分辨率也不同。因此，需要一種可用于調節空間分辨率的裝置、系統和方法。

發明內容

一方面，本發明公開一種系統。該系統包括，放射源、探測器和第一格柵元件。放射源用于產生射線。探測器上包含許多探測器單元。第一格柵元件位于放射源和探測器單元之間。第一格柵元件上包含許多個射線穿過區。放射源發出的射線穿過第一格柵元件上的至少一個射線穿過區，并由至少一個探測器單元上的有效區域接收到。可以通過調節第一格柵元件來調節有效區域。放射源、第一格柵元件和探測器單元組合使用可用于檢測一個目標。這里所說的“組合”或“組合使用”指的是一個或多個部件單獨使用或者結合起來使用以實現所需的功能，例如檢測一個目標，或調整一個成像裝置或者圖像的參數等。

另一方面，本發明公開一種方法。該方法包括，在放射源和探測器之間設置第一格柵元件。探測器上包含許多探測器單元。第一格柵元件上包含許多個射線穿過區。該方法還包括，射線由放射源向第一格柵元件發射，并且射線穿過第一格柵元件上的至少一個射線穿過區，并由至少一個探測器單元上的有效區域接收到。通過調節第一格柵元件可以調節有效區域。放射源、第一格柵元件和探測器單元組合使用可用于檢測一個目標。

在某些實施例中，通過調節第一格柵元件的位置來調節有效區域；在某些實施例中，通過將第一格柵元件傾斜一定角度來調節有效區域；在某些實施例中，該角度的值可能是0°至360°之間的任意角度。

在某些實施例中，該系統還可包括一個遮擋裝置，該遮擋裝置能夠可調節地遮擋放射源發出的射線。在某些實施例中，該遮擋裝置的具體形式可以是滑片、擋板、旋轉葉片，或其他形式，或是這些形式的組合。

在某些實施例中，該系統還可以包括第二格柵元件。第二格柵元件的位置在第一格柵元件和探測器之間。在某些實施例中，第一格柵元件和第二格柵元件可以做相對運動。在某些實施例中，第一格柵元件和第二格柵元件平行。在某些實施例中，第一格柵元件和第二格柵元件成一定角度。

在某些實施例中，第二格柵元件上包含許多個射線穿過區，并且至少一個射線穿過區與一個探測器單元上的一個有效區域組合使用。在某些實施例中，第一格柵元件上射線穿過區的排列方向和第二格柵元件上射線穿過區的排列方向不同。