[發(fā)明專利]樣品臺(tái)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580067912.3 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107430973B | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 格哈杜斯·伯納德瑞斯·斯塔姆斯尼德;保羅·科內(nèi)利斯·瑪麗亞·萬(wàn)登伯斯;托恩·安東尼厄斯·科內(nèi)利斯·亨利庫(kù)斯·克魯伊特曼斯;桑德爾·理查德·瑪麗·斯多克斯;阿德里安努斯·弗朗西斯庫(kù)斯·約翰內(nèi)斯·哈姆曼;卡雷爾·迪德里克·萬(wàn)登馬斯特 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 飛納世界控股有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01J37/20 | 分類號(hào): | H01J37/20 |
| 代理公司: | 北京英賽嘉華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11204 | 代理人: | 王達(dá)佐;王艷春 |
| 地址: | 荷蘭埃*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 樣品 | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N樣品臺(tái),例如用于在掃描電子顯微鏡中使用。該樣品臺(tái)包括基底、樣品載體和致動(dòng)器組件,該致動(dòng)器組件布置成用于沿大體上平行于基底的至少一個(gè)方向移動(dòng)樣品載體。致動(dòng)器組件布置成對(duì)樣品臺(tái)從樣品載體到基底的機(jī)械剛度不起作用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種樣品臺(tái)。更具體地,本發(fā)明涉及一種用于電子顯微鏡中的樣品臺(tái)。本發(fā)明還涉及一種諸如用于電子顯微鏡中的真空系統(tǒng)。本發(fā)明還涉及一種改進(jìn)的負(fù)載鎖。
背景技術(shù)
樣品臺(tái)通常用于相對(duì)于參考位置移動(dòng)樣品。參考位置可以例如與諸如掃描電子顯微鏡的顯微鏡視場(chǎng)相關(guān)。參考位置可以例如是光軸或光束位置。樣品臺(tái)允許相對(duì)于參考位置來(lái)定位和重新定位樣品,例如以允許檢查樣品的某些特征,或者允許檢查大于視場(chǎng)的表面積。
負(fù)載鎖在諸如電子顯微鏡的裝置的內(nèi)部大氣與外部大氣之間形成端口。當(dāng)在改性大氣下(例如在真空中)檢查樣品時(shí),通常使用負(fù)載鎖,以允許順序地檢查多個(gè)樣品,同時(shí)最小化在后續(xù)樣品的裝載和卸載期間對(duì)改性大氣的擾亂。
發(fā)明內(nèi)容
一般來(lái)說(shuō),期望能夠相對(duì)于參考位置定位樣品,例如通過(guò)借助于樣品臺(tái)來(lái)相對(duì)于基底移動(dòng)樣品載體。基底可以相對(duì)于參考位置固定地定位。樣品可以定位在X方向上,以及可選地Y方向上,以及可選地Z方向上。此外,還可以將樣品定位在旋轉(zhuǎn)方向上,諸如圍繞豎直軸線的旋轉(zhuǎn)方向R以及傾斜方向T1和T2。在本文中,X和Y表示平行于基底平面的兩個(gè)正交方向,并且Z是與X、Y正交的方向。傾斜方向T1和T2通常表示圍繞與旋轉(zhuǎn)R的豎直軸線正交且相互正交的軸線的旋轉(zhuǎn)。
當(dāng)定位樣品時(shí),位置的精度和維持位置的穩(wěn)定性是非常重要的。通常不期望樣品移動(dòng),例如在觀察樣品期間在視場(chǎng)內(nèi)振動(dòng)。此外,樣品臺(tái)保持定位在樣品臺(tái)的樣品載體上的樣品的位置的能力是非常重要的。本文中的一個(gè)重要方面是樣品臺(tái)從樣品載體到基底的機(jī)械剛度。已知的是,位移機(jī)構(gòu),例如導(dǎo)軌(例如用于在X、Y和/或Z方向上定位樣品載體),或旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)(例如用于使樣品載體在R、T1和/或T2方向上旋轉(zhuǎn))可以降低樣品臺(tái)的總體機(jī)械剛度。過(guò)去,已經(jīng)投入了很大的努力來(lái)設(shè)計(jì)具有高機(jī)械剛度的位移機(jī)構(gòu)和旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)。
公共樣品臺(tái)設(shè)計(jì)使用:安裝到基底的X臺(tái),即用于在X方向上的線性位移的位移機(jī)構(gòu);堆疊在X臺(tái)頂部的Y臺(tái),即用于在Y方向上的線性位移的位移機(jī)構(gòu);以及堆疊在Y臺(tái)頂部的樣品載體。發(fā)明人認(rèn)識(shí)到,這種堆疊設(shè)計(jì)可以顯著降低樣品臺(tái)的總體剛度。當(dāng)樣品臺(tái)包括用于更多自由度(例如呈堆疊設(shè)計(jì)的X、Y、Z、R、T1和T2)的移動(dòng)機(jī)構(gòu)時(shí),這種情況會(huì)加劇。根據(jù)本發(fā)明的方面,提供了一種樣品臺(tái),其包括:基底;樣品載體;致動(dòng)器組件,致動(dòng)器組件被布置成用于沿大體上平行于基底的兩個(gè)不同方向移動(dòng)樣品載體。樣品臺(tái)包括二維滑動(dòng)軸承,其被布置成用于允許樣品載體在平行于基底的平面中沿兩個(gè)不同方向滑動(dòng)。這提供了以下優(yōu)點(diǎn):使得利用單個(gè)二維滑動(dòng)軸承來(lái)使樣品載體相對(duì)于基底的兩種不同運(yùn)動(dòng)成為可能,這顯著地增加了樣品臺(tái)從樣品載體到基底的剛度。大體上平行于基底的兩個(gè)不同方向可以是例如平移和旋轉(zhuǎn),或兩個(gè)正交的平移。應(yīng)當(dāng)清楚的是,可以通過(guò)使用兩個(gè)正交的致動(dòng)器,例如沿X方向起作用的第一致動(dòng)器和沿Y方向起作用的第二致動(dòng)器,來(lái)實(shí)現(xiàn)沿大體上平行于基底的兩個(gè)正交方向移動(dòng)樣品載體。還可能的是,通過(guò)使用兩個(gè)非正交的致動(dòng)器,例如沿X方向起作用的第一致動(dòng)器和與X軸成45度的第二致動(dòng)器,來(lái)實(shí)現(xiàn)沿基本上平行于基底的兩個(gè)正交方向移動(dòng)樣品載體。還可能的是,通過(guò)使用線性致動(dòng)器和旋轉(zhuǎn)致動(dòng)器,例如沿R方向起作用的第一致動(dòng)器和沿徑向方向起作用的第二致動(dòng)器,來(lái)實(shí)現(xiàn)沿基本上平行于基底的兩個(gè)正交方向移動(dòng)樣品載體。可選地,致動(dòng)器組件還被布置成用于圍繞與基底正交的軸線旋轉(zhuǎn)樣品載體,并且二維滑動(dòng)軸承還被布置成用于允許樣品載體圍繞與基底正交的軸線旋轉(zhuǎn)。
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