[發明專利]用于相機陣列的透鏡移位校正的方法和系統有效
| 申請號: | 201580064676.X | 申請日: | 2015-11-25 |
| 公開(公告)號: | CN107079100B | 公開(公告)日: | 2020-11-24 |
| 發明(設計)人: | G.索馬納思;O.內斯塔雷斯;K.塞沙德林納坦;吳翌 | 申請(專利權)人: | 英特爾公司 |
| 主分類號: | H04N5/232 | 分類號: | H04N5/232;H04N17/00;G03B13/36 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李雪娜;杜荔南 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 相機 陣列 透鏡 移位 校正 方法 系統 | ||
1.一種用于相機陣列的透鏡移位校正的計算機實施的方法,包括:
獲得多個相機的圖像數據,其中所述相機中的至少一個要執行自動聚焦;
確定移位參數以使自動聚焦相機的單獨的圖像的錯位點的位置移位并且校正通過使用所述多個相機的非自動聚焦相機的圖像上的對應點確定的位置;
通過使用所述參數來扭曲來自自動聚焦相機的圖像以修改自動聚焦相機的圖像上的錯位點的位置;以及
建立至少兩條極線,每一條都從錯位點的對應點并從非自動聚焦相機的圖像延伸,并且延伸到自動聚焦相機的圖像,其中在自動聚焦相機的圖像上的極線的交叉點是錯位點的正確位置。
2.根據權利要求1所述的方法,其中所述移位參數指示對錯位點的校正,就像錯位點是通過使用先前用于校準的焦距、主點或這二者而定位的一樣。
3.根據權利要求1所述的方法,其中所述參數從自動聚焦相機的圖像到圖像而不同。
4.根據權利要求1所述的方法,其中所述參數是通過使用超定線性系統來確定的。
5.根據權利要求1所述的方法,其中所述參數是通過使糾正誤差方程最小化來確定的。
6.根據權利要求5所述的方法,其中以具有要被確定的參數變量的矩陣乘法形式來放置誤差方程。
7.根據權利要求1所述的方法,包括確定從錯位點到自動聚焦相機的圖像上的極線中的每一條的距離;以及
使用所述距離來計算所述移位參數中的至少一個。
8.根據權利要求1所述的方法,其中所述相機處于非共線布置。
9.根據權利要求1所述的方法,其中所述移位參數包括在大體上平行于自動聚焦相機的傳感器的平面的方向上的2D位移,或者大體上在自動聚焦相機的光軸的方向上的尺度。
10.根據權利要求1所述的方法,包括利用所述參數扭曲自動聚焦相機的經糾正的圖像。
11.根據權利要求1所述的方法,包括利用所述參數扭曲自動聚焦相機的未經糾正的高分辨率圖像。
12.根據權利要求1所述的方法,其中所述移位參數指示對錯位點的校正,就像錯位點是通過使用先前用于校準的焦距、主點或這二者而定位的一樣;
其中所述參數從自動聚焦相機的圖像到圖像而不同;
其中所述參數是通過使用超定線性系統來確定的;
其中所述參數是通過使糾正誤差方程最小化來確定的;
其中以具有要被確定的參數變量的矩陣乘法形式來放置誤差方程;
所述方法包括:
確定從錯位點到自動聚焦相機的圖像上的極線中的每一條的距離;以及
使用所述距離來計算所述移位參數中的至少一個;
其中所述相機處于非共線布置;
其中所述移位參數包括在大體上平行于自動聚焦相機的傳感器的平面的方向上的2D位移,或者大體上在自動聚焦相機的光軸的方向上的尺度;
所述方法包括以下各項中的至少一個:
利用所述參數扭曲自動聚焦相機的經糾正的圖像;以及
利用所述參數扭曲自動聚焦相機的未經糾正的高分辨率圖像。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于英特爾公司,未經英特爾公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580064676.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:帶電裝置及圖像形成裝置
- 下一篇:用于發電系統的經濟優化的設備及方法





