[發明專利]用于相機陣列的透鏡移位校正的方法和系統

有效

• 申請號: 201580064676.X
• 申請日: 2015-11-25
• 公開（公告）號: CN107079100B
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: G.索馬納思;O.內斯塔雷斯;K.塞沙德林納坦;吳翌
• 申請（專利權）人: 英特爾公司
• 主分類號: H04N5/232
• 分類號: H04N5/232;H04N17/00;G03B13/36
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李雪娜;杜荔南

一種用于相機陣列的透鏡移位校正的系統、物品和方法。

背景技術

諸如數字相機之類的數字圖像處理設備或者具有此類相機的設備使用自動特征來增加在數字相機上的預覽屏幕上的圖像、所記錄的圖片、和所記錄的視頻的質量。這包括涉及自動白平衡（AWB）、自動聚焦（AF）和自動曝光控制（AEC）的3A特征。自動聚焦是透鏡位置相對于圖像傳感器或其他圖像捕獲介質的自動調整以獲得銳利清晰的圖像。

透鏡的移動是由相機致動器或電動機來控制的，該相機致動器或電動機將電流（在音圈電動機（VCM）致動器的情況下）轉換成運動。透鏡的位置與所施加的電流（以mA計）線性成比例。為了執行計算以將透鏡放置在具體位置，必須確定應該施加多少電流以將透鏡移動到該位置。歸因于可以在相機設備和在相機內托住并移動透鏡的相機的部分的制造期間發生的制造容差和/或其他誤差，當相機被放置在不同取向時，透鏡可相對于相機內的傳感器并且歸因于重力或其他力而移位。這可能導致焦距以及主點（principal point）從用于校準的焦距和主點的不期望的改變，從而降低所捕獲或記錄的圖像的質量以及繼而為此類目的而提供多個相機的設備上的3D深度檢測的準確性。

附圖說明

在附圖中通過示例的方式并且不通過限制的方式來圖示本文中所述的材料。為了圖示的簡潔性和清楚性，圖中圖示的元件不一定按照比例來繪制。例如，為了清楚起見某些元件的尺寸可能相對于其他元件被放大。此外，在適當考慮的情況下，參考標記已經在各圖之間被重復以指示對應或相似的元件。在圖中：

圖1是示出圖像捕獲設備上的透鏡的定位的示意圖；

圖2是示出多相機陣列的示意圖；

圖3是用于具有自動聚焦的多相機陣列的透鏡校正過程的流程圖；

圖4是用于具有自動聚焦的多相機陣列的透鏡校正過程的流程圖；

圖4A是用于具有自動聚焦的多相機陣列的透鏡校正過程的詳細流程圖；

圖5是示出在透鏡校正過程中的多個經糾正的（rectified）圖像的使用的示意圖；

圖6是在透鏡移位校正之前的圖像的灰度視差圖；

圖7是在透鏡移位校正之后的圖6的圖像的灰度視差圖；

圖8是在圖6-7中使用的圖像；

圖9是在透鏡移位校正之前的圖像的灰度視差圖；

圖10是在透鏡移位校正之后的圖9的圖像的灰度視差圖；

圖11是在圖9-10中使用的圖像；

圖12是在透鏡移位校正之前的對于原始和縮放圖片中的對象的縮放準確度的比較；

圖13是在透鏡移位校正之后的對于原始和縮放圖片中的對象的縮放準確度的比較；

圖14是在透鏡移位校正之前的圖像的另一灰度視差圖；

圖15是在透鏡移位校正之后的圖14的圖像的灰度視差圖；

圖16是示出在透鏡移位校正之前的圖片中的對象的縮放的圖片；

圖17是示出在透鏡移位校正之后的圖片中的對象的縮放的圖片；

圖18是示例系統的說明性示圖；

圖19是另一示例系統的說明性示圖；

圖20圖示全部根據本公開的至少一些實施方式而布置的另一示例設備；以及

圖21是根據本文中實施方式中的至少一個且處于操作中的透鏡移位校正的方法的示圖。

具體實施方式