[發明專利]用于控制原子發射光譜儀的設備和方法

有效

• 申請號: 201580060604.8
• 申請日: 2015-11-06
• 公開（公告）號: CN107371377B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: R·法卡斯;T·瑪烏拉斯
• 申請（專利權）人: 塞莫費雪科學(埃居布朗)有限公司
• 主分類號: G01N21/67
• 分類號: G01N21/67
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 姬利永

1.一種用于建立原子發射光譜儀AES的安全操作以分析布置在所述AES的樣品固持器上的樣品的控制器，所述控制器經配置以：

接收指示所述樣品在所述樣品固持器上的布置的兩個或多于兩個測試參數中的每一個的測量值，其中所述兩個或多于兩個測試參數是至少兩種不同類型的測試參數，其中所述兩種或多于兩種不同類型的測試參數中的每一種選自由以下各者組成的群組：

取決于所述樣品固持器的樣品接收器處的第一端子與所述樣品固持器的夾持元件處的第二端子之間的電流的電參數，所述樣品接收器用于接收所述樣品并且所述夾持元件用于將所述樣品緊固到所述樣品接收器，其中所述樣品接收器包括用于提供通入容納所述AES的電極的氣室中的開口的孔口，并且所述孔口被配置為當使用所述夾持元件將所述樣品布置在所述樣品接收器上時被所述樣品密封；

所述氣室中的氣體壓力；

所述樣品固持器的所述夾持元件的角位移或者所述樣品本身的橫向位移；

比較所述兩個或多于兩個測試參數中的每一個與每一測試參數的目標值范圍以確定所述樣品是否正確地布置在所述樣品固持器上；以及

在所述兩個或多于兩個測試參數中的一個或多個不在所述測試參數的所述目標值范圍內的情況下，停用所述AES的所述電極。

2.根據權利要求1所述的控制器，其中所述兩個或多于兩個測試參數包括三個測試參數，所述三個測試參數包括：

取決于所述樣品固持器處的第一端子與第二端子之間的所述電流的電參數；

容納所述AES的電極的氣室中的氣體壓力；以及

所述樣品固持器的夾持元件的角位移或者所述樣品本身的橫向位移。

3.根據權利要求1所述的控制器，其中所述兩個或多于兩個測試參數中的至少一個為所述電參數。

4.根據權利要求2或3所述的控制器，其中所述控制器進一步經配置以將電流施加于所述第一端子與所述第二端子之間。

5.根據權利要求2或3所述的控制器，其中所述電參數為阻抗。

6.根據權利要求1所述的控制器，其中所述兩個或多于兩個測試參數中的至少一個為所述氣體壓力。

7.根據權利要求2或6所述的控制器，其中所述氣體壓力是在經過一段時間間隔之后測量。

8.根據權利要求1所述的控制器，其中所述兩個或多于兩個測試參數中的至少一個為所述角位移或橫向位移。

9.根據權利要求2或8所述的控制器，其中所述角位移等于在第一時間測得的所述樣品固持器的夾持元件的第一位置與在第二時間測得的所述樣品固持器的所述夾持元件的第二位置之間的差，所述夾持元件用于將所述樣品緊固到所述樣品接收器。

10.根據權利要求1-3、6和8中任一項所述的控制器，其中停用所述電極包括控制開關以調節穿過所述電極的高電壓電流。

11.根據權利要求1-3、6和8中任一項所述的控制器，其進一步經配置以在激勵所述電極時提供視覺指示符。

12.一種原子發射光譜儀(AES)，其包括根據權利要求1-3、6和8中任一權利要求所述的控制器。