[發明專利]接觸測試裝置有效
| 申請號: | 201580060261.5 | 申請日: | 2015-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN107003335B | 公開(公告)日: | 2020-05-22 |
| 發明(設計)人: | 金日 | 申請(專利權)人: | 金日 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R1/067 |
| 代理公司: | 北京青松知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人: | 鄭青松 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 接觸 測試 裝置 | ||
1.一種接觸測試裝置,其特征在于,包含:
一第一導引板,具有多個第一探針孔;
一第二導引板,平行該第一導引板設置,并具有多個第二探針孔;
一中介板,設置于該第一導引板及該第二導引板之間,并具有相比該第一探針孔與第二探針孔長的長孔形狀的多個中介孔;以及
多個探針,插入該多個第一探針孔、該多個第二探針孔及該多個中介孔;
其中該中介板相對于該第一導引板及該第二導引板為可移動的,
該探針由該中介板的移動至少一部分是彎曲的,且該彎曲部分鄰接該中介孔一側的內壁面,該中介孔的長軸方向與所述探針的彎曲方向相同,
該中介板還在該探針彎曲的方向上移動,且該中介板的移動在與該探針的彎曲方向相反的方向上被限制,
當該探針接觸測試物的電極并受到壓迫時,由該探針向該彎曲的方向更加變形并推動該中介孔的另一側的內壁面,該中介板更向探針的彎曲方向移動。
2.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該探針的一最厚部分的直徑小于該第一探針孔或該第二探針孔的內徑。
3.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中一第一柱孔形成于該第一導引板,或一第二柱孔形成于該第二導引板,且一柱銷插入該第一柱孔或該第二柱孔以限制該中介板的移動。
4.如權利要求3所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中讓該柱銷插入的一中介柱孔形成于該中介板,且該中介柱孔的內徑大于該柱銷的直徑,而使該中介板為可移動的。
5.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,更包含:
一位置調整插銷,相對于該第一導引板及該第二導引板移動該中介板;
其中該探針的至少一部分依靠該中介板的移動而彎曲,且該彎曲部分鄰接該中介孔的一壁面。
6.如權利要求5所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該位置調整插銷可轉動地插入形成于該第一導引板的一第一位置調整孔或形成于該第二導引板的一第二位置調整孔,且該位置調整插銷具有偏心轉動的部分,當該部分于該第一位置調整孔或該第二位置調整孔中轉動時推動該中介板。
7.如權利要求6所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該第一位置調整孔或該第二位置調整孔的內徑大于該位置調整插銷的直徑,使得該位置調整插銷在該中介板移動后為可移除的。
8.如權利要求5所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該位置調整插銷用于插入形成于該接觸測試裝置的一側面的一位置調整孔,并用于移動該中介板。
9.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該多個第一探針孔間的節距及該多個第二探針孔間的節距彼此不同。
10.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該多個第一探針孔的配置及該多個第二探針孔的配置彼此不同。
11.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中長孔形狀的該中介孔的一長軸方向為相對于兩相鄰探針的中心聯機傾斜一預定角度的方向。
12.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中一絕緣包覆形成于該多個探針的至少一個探針上。
13.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該中介板的移動使該探針變形。
14.如權利要求1所述的接觸測試裝置,其特征在于,
其中該探針固定成在重力方向上不會因為 自身重量而移動。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于金日,未經金日許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580060261.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





