[發明專利]整料體

在審

• 申請號: 201580057495.4
• 申請日: 2015-10-22
• 公開（公告）號: CN107223071A
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: S.J.阿希巴爾德;何平;S.J.哈斯韋爾;N.帕姆;N.J.布朗;M.D.塔恩;R.亞歷山大;M.M.N.埃斯法哈尼
• 申請（專利權）人: 赫爾大學
• 主分類號: B01J20/283
• 分類號: B01J20/283;B01J41/20;G21G1/00;B01J20/28;B01J39/26;B01J20/291;B01J19/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 林毅斌,黃念

1.色譜整料體用于從樣品分離分析物的用途，其中所述樣品包含放射性物質，且其中所述整料體為無機整料體，并且為微流體流動系統的部分。

2.權利要求1的用途，其中所述整料體包括選自硅基組合物、鋁基組合物和鈦基組合物的組合物，且其中各組合物任選經化學官能化。

3.權利要求2的用途，其中所述組合物選自二氧化硅基組合物、氧化鋁基組合物和二氧化鈦基組合物，其中各組合物任選經化學官能化。

4.權利要求2的用途，其中所述整料體包括選自二氧化硅、硅酰亞胺基氮化物、硅酰亞胺和氮化硅的硅基組合物，其中各組合物任選經化學官能化。

5.前述權利要求中任一項的用途，其中所述整料體包括二氧化硅或化學官能化二氧化硅。

6.前述權利要求中任一項的用途，其中所述整料體為陽離子交換整料體，例如，整料體包括用丙基磺酸基改性的二氧化硅。

7.前述權利要求中任一項的用途，其中所述整料體為陰離子交換整料體，例如，整料體包括用季銨改性的二氧化硅。

8.前述權利要求中任一項的用途，其中所述整料體為反相整料體，例如，整料體包括用十八烷基碳基改性的二氧化硅。

9.前述權利要求中任一項的用途，其中所述分析物為放射性同位素或其陽離子或陰離子。

10.前述權利要求中任一項的用途，其中所述分析物為放射性同位素或其陽離子或陰離子，所述樣品為從回旋加速器或衰變發生器產生的放射性溶液。

11.前述權利要求中任一項的用途，其中所述分析物為放射性同位素[¹⁸F]氟化物。

12.前述權利要求中任一項的用途，其中所述分析物為放射性同位素⁶⁸Ga或其陽離子(例如，⁶⁸Ga³⁺)。

13.權利要求1至8中任一項的用途，其中所述分析物為放射性藥物前體或其受保護形式(例如，乙?；痆¹⁸F]FDG)，所述樣品為反應混合物。

14.權利要求1至8中任一項的用途，其中所述分析物為放射性藥物。

15. 權利要求14的用途，其中所述分析物為選自以下的放射性示蹤劑：¹⁸F-FLT ([¹⁸F]氟胸苷)、¹⁸F-FDDNP (2-(1-{6-[(2-[¹⁸F]氟乙基)(甲基)氨基]2-萘基}乙叉基)丙二腈)、¹⁸F-FHBG (9-[4-[¹⁸F]氟-3-(羥甲基)丁基]鳥嘌呤或[¹⁸F]噴昔洛韋)、¹⁸F-FESP ([¹⁸F]氟乙基螺哌隆)、¹⁸F-p-MPPF (4-(2-甲氧基苯基)-1-[2-(N-2-吡啶基)-p-[¹⁸F]氟苯甲酰氨基]乙基哌嗪)、¹⁸F-FDG (2-[¹⁸F]氟-2-去氧-D-葡萄糖)、¹⁸F-FMISO ([¹⁸F]氟米索硝唑)和¹⁸F-氟化鈉。

16.前述權利要求中任一項的用途，其中所述分析物為雜質，所述樣品為放射性示蹤劑的溶液。

17.前述權利要求中任一項的用途，其中所述分析物為選自¹⁸F和內毒素的雜質，所述整料體為正相整料體(例如，包含氧化鋁或二氧化硅)，或者任選其中分析物為選自K222、FDM和ClDG的雜質，整料體為反相整料體。

18.前述權利要求中任一項的用途，其中分析物為選自乙?；痆¹⁸F]FDG、乙酰化[¹⁸F]FDM、甘露糖三氟甲磺酸酯和K222的雜質，且整料體為反相整料體(例如，包括用十八烷基碳改性的二氧化硅)。

19.前述權利要求中任一項的用途，其中所述分析物為選自K222和氫氧化鈉的雜質，且所述整料體為陽離子交換整料體(例如，用丙基磺酸基改性的二氧化硅)。