[發(fā)明專利]切割片與半導(dǎo)體芯片的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580056734.4 | 申請日: | 2015-10-20 |
| 公開(公告)號: | CN107078037B | 公開(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 坂本美紗季;西田卓生 | 申請(專利權(quán))人: | 琳得科株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/301 | 分類號: | H01L21/301;C09J7/29;C09J7/24;C09J7/25;C09J7/30;C09J7/50;C09J133/00;C09J175/04;C09J201/00;C09J201/02 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 張晶;謝順星 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 切割 半導(dǎo)體 芯片 制造 方法 | ||
1.一種切割片,其具有基材、設(shè)置于其一個面上的中間層、設(shè)置于所述中間層上的粘著劑層,其特征在于,
所述粘著劑層含有分子內(nèi)具有能量線固化性雙鍵的化合物,
所述粘著劑層固化前于23℃時的存儲彈性模量G’大于所述中間層于23℃時的存儲彈性模量G’,
對于所述粘著劑層固化前的所述切割片,以JIS Z0237:2000為基準(zhǔn),相對于硅鏡面晶圓進行180°撕除粘著力試驗時,所測量的粘著力為2000mN/25mm以上,
所述粘著劑層固化前于23℃時的損失因數(shù)tanδ為0.44以上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其中,所述分子內(nèi)具有能量線固化性雙鍵的化合物,包含在聚合物主鏈或側(cè)鏈上結(jié)合能量線聚合性基團而成的能量線固化型粘著性聚合物。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其中,所述中間層于23℃時的存儲彈性模量G’為1×104Pa以上、小于1×105Pa。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其特征在于,所述粘著劑層固化前于23℃時的存儲彈性模量G’為3×105Pa上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其特征在于,所述粘著劑層含有具有反應(yīng)性官能團的丙烯酸聚合物與交聯(lián)劑,相對于丙烯酸聚合物100質(zhì)量份,含有5質(zhì)量份以上的交聯(lián)劑。
6.根據(jù)權(quán)利要求5項所述的切割片,其特征在于,所述交聯(lián)劑為異氰酸酯類交聯(lián)劑。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其特征在于,其用于粘貼于設(shè)置有突起狀電極的晶圓上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的切割片,其中,所述突起狀電極為貫通電極。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的切割片,其特征在于,所述中間層的厚度為所述突起狀電極高度的0.5倍以上、1.5倍以下。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其中,所述粘著劑層固化前于23℃時的存儲彈性模量G’大于所述中間層于23℃時的存儲彈性模量G’的4倍。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其中,所述粘著劑層的厚度為5μm以上、50μm以下。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的切割片,其特征在于,所述中間層的厚度為5μm以上、50μm以下。
13.一種半導(dǎo)體芯片的制造方法,其包括:在具有突起狀電極的半導(dǎo)體晶圓的形成有電極的面上,粘貼權(quán)利要求1~12中任一項所述的切割片的工序;將所述半導(dǎo)體晶圓按每個電路單片化,制作半導(dǎo)體芯片的工序;以及拾取所述半導(dǎo)體芯片的工序。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





