[發(fā)明專利]OCT裝置用光檢測(cè)模塊及OCT裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580054288.3 | 申請(qǐng)日: | 2015-10-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106796172B | 公開(公告)日: | 2019-10-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 牧野健二;稻垣正人;田畑桂 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浜松光子學(xué)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N21/17 | 分類號(hào): | G01N21/17 |
| 代理公司: | 北京尚誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人: | 楊琦;黃浩 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | oct 裝置 用光 檢測(cè) 模塊 | ||
一種OCT裝置用光檢測(cè)模塊(1),在OCT裝置(100)中檢測(cè)從光纖(F)的射出端面(FS)射出的干涉光(LC),其中,具備:球透鏡(7A),其具有入射從射出端面(FS)射出的干涉光(LC)的入射面(71)和射出入射到入射面(71)的干涉光(LC)的射出面(72);光電二極管(8),其具有入射從射出面(72)射出的干涉光(LC)的檢測(cè)面(81),入射面(71)相對(duì)于干涉光(LC)的入射位置(74)上的垂線(75)傾斜入射干涉光(LC),射出面(72)相對(duì)于干涉光(LC)的射出位置(76)上的垂線(77)傾斜射出干涉光(LC),檢測(cè)面(81)相對(duì)于干涉光(LC)的入射位置(82)上的垂線(83)傾斜入射干涉光(LC)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及OCT裝置用光檢測(cè)模塊及OCT裝置。
背景技術(shù)
已知有通過(guò)使用光的干涉測(cè)定對(duì)象物的深度方向的反射量分布,取得對(duì)象物的斷層圖像的OCT(Optical Coherence Tomography)裝置(例如,專利文獻(xiàn)1及2)。OCT裝置可以以高的空間分辨率將對(duì)象物的內(nèi)部構(gòu)造圖象化,因此,被用于眼球或牙齒等生物體診斷。
專利文獻(xiàn)1及2所記載的OCT裝置中,將光分離成測(cè)定光和參照光,將被分離的測(cè)定光向測(cè)定對(duì)象照射。由測(cè)定對(duì)象反射的測(cè)定光通過(guò)與參照光合成而產(chǎn)生干涉光。通過(guò)由光檢測(cè)器檢測(cè)該干涉光,解析檢測(cè)結(jié)果,將對(duì)象物的深度方向的反射光的強(qiáng)度分布作為一維的斷層圖像進(jìn)行測(cè)定。進(jìn)而,通過(guò)掃描對(duì)象物上的測(cè)定光的照射位置,取得二維或三維的斷層圖像。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開2001-264246號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)2:日本特開2004-223269號(hào)公報(bào)
發(fā)明所要解決的課題
專利文獻(xiàn)1及2中記載的OCT裝置在對(duì)測(cè)定光進(jìn)行導(dǎo)波的探針中,通過(guò)抑制返回光而實(shí)現(xiàn)噪聲的除去。進(jìn)而,專利文獻(xiàn)2中記載的OCT裝置在參照光的延時(shí)線中也能夠抑制返回光。
但是,這種現(xiàn)有的OCT裝置不能充分降低固定圖形噪聲(Fixed Pattern Noise、FPN)。固定圖形噪聲作為實(shí)際上不存在的圖象在斷層圖像的深度方向的特定的位置出現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
因此,在本技術(shù)領(lǐng)域中,期望充分降低固定圖形噪聲。
用于解決課題的技術(shù)方案
本發(fā)明者等對(duì)OCT裝置進(jìn)行了調(diào)查研究。其結(jié)果,本發(fā)明者等發(fā)現(xiàn)在通過(guò)現(xiàn)有的OCT裝置取得的斷層圖像中出現(xiàn)固定圖形噪聲的位置與光檢測(cè)模塊中使用的光學(xué)透鏡中的干涉光的光路長(zhǎng)度相對(duì)應(yīng)的事實(shí)。即,可知,通過(guò)在光學(xué)透鏡內(nèi)多重反射干涉光,在斷層圖像的深度方向的特定的位置出現(xiàn)固定圖形噪聲。本發(fā)明者等著眼于自身發(fā)現(xiàn)的這些事實(shí)。本發(fā)明者等對(duì)充分降低固定圖形噪聲的光檢測(cè)模塊的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了更深入研究,直至想到本發(fā)明。
本發(fā)明一方面的OCT裝置用光檢測(cè)模塊為在OCT裝置中檢測(cè)從光纖的射出端面射出的干涉光的光檢測(cè)模塊。OCT裝置用光檢測(cè)模塊具備光學(xué)透鏡和光檢測(cè)器。光學(xué)透鏡具有入射面和射出面。向入射面入射從射出端面射出的干涉光。從射出面射出入射到入射面的干涉光。光檢測(cè)器具有檢測(cè)面。向檢測(cè)面入射從射出面射出的干涉光。入射面以相對(duì)于干涉光的入射位置上的垂線傾斜入射干涉光的方式配置。射出面以相對(duì)于干涉光的射出位置上的垂線傾斜射出干涉光的方式配置。檢測(cè)面以相對(duì)于干涉光的入射位置上的垂線傾斜入射干涉光的方式配置。
本方式中,在光纖的射出端面和光檢測(cè)器的檢測(cè)面之間的光路上防止干涉光的多重反射。因此,可以充分降低固定圖形噪聲。
本發(fā)明一方面的OCT裝置用光檢測(cè)模塊還可以具備罩部。罩部形成有干涉光通過(guò)的開口,且覆蓋光學(xué)透鏡。該情況下,能夠防止干涉光以外的光被光檢測(cè)器檢測(cè)。其結(jié)果,起因于干涉光以外的光的噪聲不易出現(xiàn)在斷層圖像上。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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