[發(fā)明專利]OCT裝置用光檢測模塊及OCT裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580054288.3 | 申請日： | 2015-10-08 |
| 公開（公告）號： | CN106796172B | 公開（公告）日： | 2019-10-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 牧野健二;稻垣正人;田畑桂 | 申請（專利權(quán)）人： | 浜松光子學(xué)株式會社 |
| 主分類號： | G01N21/17 | 分類號： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人： | 楊琦;黃浩 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | oct 裝置 用光 檢測 模塊 | ||
1.一種OCT裝置用光檢測模塊，其特征在于，
是在OCT裝置中檢測從光纖的射出端面射出的干涉光的光檢測模塊，
所述光檢測模塊具備：
光學(xué)透鏡，其具有入射從所述射出端面射出的所述干涉光的入射面和射出入射到所述入射面的所述干涉光的射出面；
光檢測器，其具有入射從所述射出面射出的所述干涉光的檢測面，
所述入射面以相對于所述干涉光的入射位置上的垂線傾斜入射所述干涉光的方式配置，
所述射出面以相對于所述干涉光的射出位置上的垂線傾斜射出所述干涉光的方式配置，
所述檢測面以相對于所述干涉光的入射位置上的垂線傾斜入射所述干涉光的方式配置，
所述光學(xué)透鏡為球透鏡，并且以所述干涉光穿過偏離所述球透鏡的重心的位置的方式配置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OCT裝置用光檢測模塊，其特征在于，
還具備罩部，其形成有所述干涉光通過的開口，且覆蓋所述光學(xué)透鏡。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的OCT裝置用光檢測模塊，其特征在于，
還具備定位部，其規(guī)定所述光纖的位置，且相對于所述開口定位所述射出端面。
4.一種OCT裝置，其特征在于，
具備權(quán)利要求1～3中任一項(xiàng)所述的OCT裝置用光檢測模塊。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
