[發明專利]受光發光元件模塊及使用其的傳感器裝置

有效

• 申請號: 201580042710.3
• 申請日: 2015-09-17
• 公開（公告）號: CN106663716B
• 公開（公告）日: 2018-10-19
• 發明（設計）人: 內田信也
• 申請（專利權）人: 京瓷株式會社
• 主分類號: H01L31/12
• 分類號: H01L31/12
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 樸英淑

受光發光元件模塊(1)具備：具有上表面(2a)的基板(2)、被配置在基板(2)的上表面(2a)的發光元件(3a)、與發光元件(3a)空出間隔地配置在基板(2)的上表面(2a)的受光元件(3b)、以及與上表面(2a)空出間隔地配置在發光元件(3a)與受光元件(3b)之間且具有下表面(5c)的中間壁(5)，中間壁(5)的下表面(5c)為凸狀。

技術領域

本發明涉及受光發光元件模塊及使用了該受光發光元件模塊的傳感器裝置。

背景技術

以往，針對傳感器裝置有各種提案，該傳感器裝置從發光元件向被照射物照射光，并由受光元件對入射至被照射物的光所對應的規則反射光與漫反射光進行受光，由此檢測被照射物的特性。該傳感器裝置在廣泛的領域中被利用，例如被廣泛地用于光斬波器、光電耦合器、遠程控制單元、IrDA(Infrared Data Association)通信器件、光纖通信用裝置、還有原稿尺寸傳感器等中。

例如，如JP特開2007-201360號公報所記載的，使用在同一基板上分別配置發光元件及受光元件并設置了將受光區域與發光區域分隔的遮光壁的傳感器裝置。

可是，這種傳感器裝置中，在基板與遮光壁之間產生間隙，光從該間隙漏泄，由此存在提高傳感器裝置的傳感性能較為困難的問題點。

發明內容

受光發光元件模塊的一形態，具備：具有上表面的基板；被配置在所述基板的所述上表面的發光元件；與所述發光元件空出間隔地配置在所述基板的所述上表面的受光元件；以及與所述上表面空出間隔地配置在所述發光元件與所述受光元件之間且具有下表面的中間壁，所述中間壁的所述下表面為凸狀。

傳感器裝置的一形態，其是使用了上述受光發光元件模塊的傳感器裝置，其中，從所述發光元件向被照射物照射光，根據基于來自該被照射物的反射光而被輸出且來自所述受光元件的輸出電流，對所述被照射物的信息進行檢測。

附圖說明

圖1(a)是表示本發明的受光發光元件模塊的實施方式的一例的俯視圖。圖1(b)是沿著圖1(a)的b-b線的示意剖視圖。

圖2(a)是構成圖1示出的受光發光元件模塊的發光元件的剖視圖。圖2(b)是構成圖1示出的受光發光元件模塊的受光元件的剖視圖。

圖3是用于說明中間壁的配置位置與傾斜面的示意圖。

圖4是表示使用了圖1示出的受光發光元件模塊的傳感器裝置的實施方式的一例的示意剖視圖。

圖5(a)、(b)分別是圖1所示的受光發光元件模塊的變形例涉及的受光發光元件模塊1A的示意性剖視圖及主要部分放大圖。

圖6是表示圖1及圖5所示的受光發光元件模塊的變形例的主要部分放大剖視圖。

圖7是表示圖1及圖6所示的受光發光元件模塊的變形例的主要部分放大剖視圖。

具體實施方式

以下，參照附圖對本發明的受光發光元件模塊及使用了該受光發光元件模塊的傳感器裝置的實施方式的例子進行說明。其中，以下的例子只是對本發明的實施方式進行例示，本發明并未限定于這些實施方式。再有，本例的受光發光元件模塊雖然可以將任意的方向作為上方或下方，但在以下的說明中，為了方便而定義正交坐標系(X、Y、Z)，將Z軸方向的正側作為上方。

(受光發光元件模塊)

圖1(a)及(b)所示的受光發光元件模塊1例如被組裝入復印機或打印機等的圖像形成裝置中，作為對調色劑或介質等被照射物的位置信息、距離信息、表面狀態或濃度信息等進行檢測的傳感器裝置的一部分起作用。其中，本例的受光發光元件模塊1的檢測對象物未被限于調色劑或介質等，也可以是金屬表面、藥片表面、或者生物的皮膚等。