[發(fā)明專利]探測系統(tǒng)及探測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580038292.0 | 申請日: | 2015-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN106662526B | 公開(公告)日: | 2020-04-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 市橋光芳 | 申請(專利權(quán))人: | 富士膠片株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/21 | 分類號: | G01N21/21;G02B5/30;G02B27/28;G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探測 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種探測系統(tǒng),其探測對象物,且是以下的第1探測系統(tǒng)或第2探測系統(tǒng),其中,
該第1探測系統(tǒng)依次包含照射圓偏振光的第1照射部、對象物移動部(24)及感應(yīng)圓偏振光的檢測部,
所述檢測部位于由所述第1照射部所照射的光入射的位置,
由所述第1照射部所照射的光入射于所述檢測部的光的光路與所述對象物移動部(24)交叉,
由所述第1照射部選擇性地照射的圓偏振光的旋向與由檢測部選擇性地感應(yīng)的圓偏振光的旋向相同,
所述第1照射部包含光源及第1圓偏振光分離薄膜(1),且所述檢測部包含第2圓偏振光分離薄膜(2)及受光元件,
所述第1探測系統(tǒng)依次配置有所述光源、第1圓偏振光分離薄膜(1)、所述對象物移動部(24)、第2圓偏振光分離薄膜(2)及所述受光元件,
第1圓偏振光分離薄膜(1)及第2圓偏振光分離薄膜(2)選擇性地透射旋向互為相同的圓偏振光,
該第2探測系統(tǒng)包含照射圓偏振光的第2照射部、感應(yīng)圓偏振光的檢測部、對象物移動部(24)及鏡面反射部件,
所述對象物移動部(24)位于所述第2照射部與所述鏡面反射部件之間及/或位于所述鏡面反射部件與所述檢測部之間,
所述第2照射部及所述檢測部位于由所述第2照射部所照射的光在所述鏡面反射部件中鏡面反射而入射于所述檢測部的位置,
由所述第2照射部照射且入射于所述鏡面反射部件的光的光路及/或入射光在所述鏡面反射部件中反射并由所述檢測部感應(yīng)的光的光路與所述對象物移動部(24)交叉,
由所述第2照射部選擇性地照射的圓偏振光的旋向與由檢測部選擇性地感應(yīng)的圓偏振光的旋向相反,
所述第2照射部包含光源及第3圓偏振光分離薄膜(11),且所述檢測部包含第4圓偏振光分離薄膜(12)及受光元件,
所述第2探測系統(tǒng)依次包含光源、第3圓偏振光分離薄膜(11)及鏡面反射部件,且依次包含所述鏡面反射部件、第4圓偏振光分離薄膜(12)及受光元件,
第3圓偏振光分離薄膜(11)及第4圓偏振光分離薄膜(12)選擇性地透射互為相反的圓偏振光,
所述檢測部為能夠測量光量的光量探測部,
在所述受光元件的受光面上配置了所述第2圓偏振光分離薄膜(2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng),其中,
第1圓偏振光分離薄膜(1)、第2圓偏振光分離薄膜(2)、第3圓偏振光分離薄膜(11)及第4圓偏振光分離薄膜(12)均為包含固定有膽甾醇型液晶相的圓偏振光分離層的薄膜。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng),其中,
所述對象物為包含透明部分的物體。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng),其中,
所述對象物為片狀。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的探測系統(tǒng),其中,
所述對象物為紙幣。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的探測系統(tǒng),其中,
所述對象物移動部(24)配置成在所述對象物通過時所述光路相對于所述對象物的平面的法線方向傾斜。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的探測系統(tǒng),其中,
所述對象物為紙幣且所述傾斜的方向與所述紙幣的短邊方向平行。
8.一種探測方法,其是權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)的探測方法,在該探測方法中,探測對象物,所述對象物是包含透明部分的紙幣,所述探測方法在選擇性地包含右旋圓偏振光或左旋圓偏振光中任一種旋向的圓偏振光已被感應(yīng)的狀態(tài)下,通過使所述圓偏振光的光路交叉而對象物通過時所感應(yīng)的光量發(fā)生變化來探測所述對象物。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的探測方法,其中,
所述變化減少。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的探測方法,其中,
所述對象物相對于所述對象物的平面的法線方向以使所述光路傾斜的方式通過所述光路。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的探測方法,其中,
所述傾斜的方向與所述紙幣的短邊方向平行。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于富士膠片株式會社,未經(jīng)富士膠片株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580038292.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





