[發(fā)明專利]探測系統(tǒng)及探測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580038292.0 | 申請日: | 2015-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN106662526B | 公開(公告)日: | 2020-04-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 市橋光芳 | 申請(專利權(quán))人: | 富士膠片株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/21 | 分類號: | G01N21/21;G02B5/30;G02B27/28;G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探測 系統(tǒng) 方法 | ||
本發(fā)明提供一種方法及系統(tǒng),該方法在選擇性地包含右旋圓偏振光或左旋圓偏振光中任一種旋向的圓偏振光已被感應(yīng)的狀態(tài)下,通過使圓偏振光的光路交叉而對象物通過時所感應(yīng)的光量發(fā)生變化來探測對象物,該系統(tǒng)依次包含照射圓偏振光的照射部、對象物移動部及感應(yīng)圓偏振光的檢測部,上述檢測部位于由上述照射部所照射的光入射的位置,由上述照射部所照射的光入射于上述檢測部的光的光路與上述對象物移動部交叉,由上述照射部選擇性地照射的圓偏振光的旋向與由檢測部選擇性地感應(yīng)的圓偏振光的旋向相同。通過本發(fā)明的方法及系統(tǒng),使用光傳感器,能夠在任意的環(huán)境下以高靈敏度且沒有誤探測地探測各種對象物。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種探測系統(tǒng)及探測方法。更詳細地,本發(fā)明涉及一種利用圓偏振光的探測系統(tǒng)及探測方法。
背景技術(shù)
光傳感器使用于各種領(lǐng)域,自動門傳感器中可看到檢測當人進入門前區(qū)域時的光量變化的情形。并且,內(nèi)置于自動售貨機等中的紙幣識別機使用光傳感器來判別紙幣的大小或讀取紙幣的印刷。
以往作為使用光傳感器的探測系統(tǒng)已知有使用偏振光的系統(tǒng)。例如,專利文獻1中,在硅基板上照射經(jīng)由第一直線偏振光濾波器的偏振紅外光,并以將由硅基板的反射光或透射光經(jīng)由第二直線偏振光濾波器而受光的系統(tǒng)來檢測硅基板的龜裂。該技術(shù)利用了如下現(xiàn)象,即不存在龜裂的地方的反射光或透射光為直線偏振光且滿足經(jīng)由第二直線偏振光濾波器的這一特定的條件時,除此以外能夠感應(yīng)的光量減少,但在由龜裂的反射光或透射光中,通過漫反射產(chǎn)生由第二直線偏振光濾波器也能夠感應(yīng)的光。而且,專利文獻2中公開有專利文獻1的技術(shù)中利用圓偏振光的技術(shù)。在此,在光源與硅基板之間的光束的光路中所設(shè)置的第1圓偏振光濾波器和在光束的光路的延長線上且相對于硅基板與配置有第1圓偏振光濾波器的一側(cè)相反側(cè)所配設(shè)的第2圓偏振光濾波器具有相反的偏振光方向。
專利文獻3中公開有利用紅外光來檢查人的手或物體的自動水栓裝置中使用透射所照入的紅外光的直線偏振光成分的第1偏振單元與使受光的紅外光的直線偏振光成分透射的第2偏振單元來防止誤探測的裝置。在該裝置中,第1偏振光機構(gòu)及第2偏振光機構(gòu)通過使所透射的光成為不同的偏振光成分來檢測漫反射成分,以探測對象物。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
專利文獻1:日本專利公開2008-58270號公報
專利文獻2:日本專利公開2013-36888號公報
專利文獻3:日本專利公開2003-96850號公報
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的技術(shù)課題
在以往的使用光傳感器的系統(tǒng)中,因探測對象物的光學(xué)特征等,有時會出現(xiàn)誤探測,因此需要時時改善。專利文獻3為減少了誤探測的結(jié)構(gòu)的一例,其在背景光成為鏡面反射光的環(huán)境中對存在對象物時的漫反射進行感應(yīng)。專利文獻1中所記載的技術(shù)及利用圓偏振光的專利文獻2中所記載的技術(shù)同樣也是在背景光成為鏡面反射光的環(huán)境中對來自對象物的漫反射成分進行檢測的技術(shù)。
本發(fā)明的課題在于提供一種能夠在各種環(huán)境及對象物中使用的靈敏度高且誤探測少的探測系統(tǒng)。并且,本發(fā)明的課題在于提供一種使用光傳感器而在任意的環(huán)境中以高靈敏度且沒有誤探測地探測各種對象物的方法。
用于解決技術(shù)課題的手段
本發(fā)明人等,為了解決上述課題,不斷進行深入研究,發(fā)現(xiàn)了新的系統(tǒng)。即,本發(fā)明提供下述的[1]~[20]。
[1]一種系統(tǒng),其探測對象物,其中,
該系統(tǒng)依次包含照射圓偏振光的照射部、對象物移動部及感應(yīng)圓偏振光的檢測部,
上述檢測部位于由上述照射部所照射的光入射的位置,
由上述照射部所照射的光入射于上述檢測部的光的光路與上述對象物移動部交叉,
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





