[發明專利]通過X射線反射散射測量來測量樣本的方法和系統有效
| 申請號： | 201580015724.6 | 申請日： | 2015-01-16 |
| 公開（公告）號： | CN106164618B | 公開（公告）日： | 2021-07-27 |
| 發明（設計）人： | 希瑟·A·波伊斯;戴維·A·雷德;布魯諾·W·許勒爾;羅德尼·斯梅德特;杰弗里·T·范東 | 申請（專利權）人： | 諾威量測設備公司 |
| 主分類號： | G01B15/00 | 分類號： | G01B15/00;G01N23/223;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人： | 梁麗超;陳鵬 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 通過 射線 反射 散射 測量 樣本 方法 系統 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于諾威量測設備公司，未經諾威量測設備公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580015724.6/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種氣囊式可折疊行李箱
- 下一篇：一種具有多邊形反光杯的吸頂燈光源組件
