[發明專利]投影系統、半導體集成電路及圖像修正方法有效
| 申請號： | 201580000132.7 | 申請日： | 2015-01-07 |
| 公開（公告）號： | CN105026997B | 公開（公告）日： | 2019-04-30 |
| 發明（設計）人： | 渕上竜司;大橋政宏 | 申請（專利權）人： | 松下電器(美國)知識產權公司 |
| 主分類號： | G03B17/54 | 分類號： | G03B17/54;G03B21/00;H04N5/74 |
| 代理公司： | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人： | 徐殿軍 |
| 地址： | 美國加*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 圖案光 坐標變換信息 攝像圖像 攝像裝置 投影系統 投影坐標 半導體集成電路 圖像修正裝置 攝像坐標系 投影坐標系 攝像像素 投影圖像 投影裝置 圖像修正 代碼化 投影 關聯 圖像 修正 拍攝 | ||
1.一種投影系統，具有：
投影裝置，將包括圖案圖像的圖案光投影在物體上，該圖案圖像對應于將投影坐標系中的投影坐標進行代碼化而得到的信息；
攝像裝置，對被投影在所述物體上的圖案光進行拍攝，并生成包括攝像坐標系中的攝像像素坐標的攝像像素值的第1攝像圖像；以及
圖像修正裝置，根據所述第1攝像圖像生成將所述投影坐標和所述攝像像素坐標關聯起來的第1坐標變換信息，使用所述第1坐標變換信息來修正預先準備的投影圖像，
所述圖像修正裝置對由所述攝像裝置取得的表示所述物體的構造的第2攝像圖像、與預先準備的基準圖像進行比較，生成通過幾何學變形將所述第2攝像圖像和所述基準圖像關聯起來的第2坐標變換信息，并使用所述第1坐標變換信息和所述第2坐標變換信息對所述投影圖像實施幾何學變形處理。
2.根據權利要求1所述的投影系統，
所述圖像修正裝置通過利用所述基準圖像的圖案映射，來限定所述第2攝像圖像的全部范圍中的、被用于所述第2攝像圖像和所述基準圖像的基于幾何學變形的關聯的圖像的范圍。
3.根據權利要求1所述的投影系統，
所述圖像修正裝置使用所述第1坐標變換信息對由所述攝像裝置取得的表示所述物體的構造的第2攝像圖像實施幾何學變形處理，來生成視點變換圖像。
4.根據權利要求3所述的投影系統，
所述圖像修正裝置具有將所述視點變換圖像輸出到外部的輸出部。
5.根據權利要求3所述的投影系統，
所述圖像修正裝置對所述視點變換圖像和預先準備的基準圖像進行比較，生成通過幾何學變形將所述視點變換圖像和所述基準圖像關聯起來的第3坐標變換信息，使用所述第3坐標變換信息對所述投影圖像實施幾何學變形處理。
6.根據權利要求1所述的投影系統，
所述投影圖像包括彼此不同的第1投影圖像和第2投影圖像，
所述圖像修正裝置根據從所述攝像裝置得到的三維計測信息和所述第1坐標變換信息，從所述第1投影圖像和所述第2投影圖像中選擇一個投影圖像，并且修正所選擇的投影圖像。
7.根據權利要求6所述的投影系統，
所述三維計測信息是利用三角法從所述第1坐標變換信息得到的到所述物體的距離信息，
所述圖像修正裝置按照到所述物體的距離信息，從所述第1投影圖像和所述第2投影圖像中選擇一個投影圖像，并且根據所述第1坐標變換信息修正所選擇的投影圖像。
8.根據權利要求6所述的投影系統，
所述三維計測信息是利用光度立體法得到的所述物體的表面的法線矢量信息，
所述圖像修正裝置按照所述法線矢量信息所表示的矢量方向，從所述第1投影圖像和所述第2投影圖像中選擇一個投影圖像，并且根據所述第1坐標變換信息修正所選擇的投影圖像。
9.根據權利要求6所述的投影系統，
所述攝像裝置包括圖像傳感器，該圖像傳感器能夠根據從光源發出的光在所述物體反射并到達所述攝像裝置的時間進行距離測定，
所述圖像修正裝置根據通過所述距離測定而得到的到所述物體的距離信息，從所述第1投影圖像和所述第2投影圖像中選擇一個投影圖像，并且根據所述第1坐標變換信息修正所選擇的投影圖像。
10.根據權利要求1所述的投影系統，
所述投影裝置將修正后的投影圖像投影在所述物體上。
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