[實(shí)用新型]一種鍍膜膜厚監(jiān)測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201521041410.7 | 申請日： | 2015-12-15 |
| 公開（公告）號： | CN205373621U | 公開（公告）日： | 2016-07-06 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 周東平 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州晶鼎鑫光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01B7/06 | 分類號： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)婁*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 鍍膜 監(jiān)測 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種鍍膜膜厚監(jiān)測裝置，其特征在于，包括：擋板（1），設(shè)于擋板上的通孔（2），第一晶振（3），第二晶振（4），其中，第一晶振與第二晶振的監(jiān)測位置相同，通孔處為監(jiān)測位置，第一晶振在監(jiān)測位置被鍍膜時，遮擋第二晶振；當(dāng)?shù)谝痪д癖诲兡さ揭欢ǖ暮穸群?，第一晶振被移離而第二晶振被移到監(jiān)測位置，對膜厚進(jìn)行連續(xù)監(jiān)測。
2.如權(quán)利要求1所述的鍍膜膜厚監(jiān)測裝置，其特征在于，所述第一晶振位于第二晶振左側(cè)，當(dāng)?shù)谝痪д癖诲兡さ揭欢ê穸群螅瑑蓚€晶振被同時移向左側(cè)，第二晶振在通孔處被鍍膜，開始對膜厚進(jìn)行監(jiān)測，而第一晶振被遮擋并停止工作。
3.如權(quán)利要求2所述的鍍膜膜厚監(jiān)測裝置，其特征在于，所述通孔尺寸與所述第一晶振或第二晶振相對應(yīng)。
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