[實用新型]提升材料生長產(chǎn)能和改善均勻性的樣品托盤有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520997293.5 | 申請日: | 2015-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN205188476U | 公開(公告)日: | 2016-04-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫錢;嚴威;馮美鑫;楊輝 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所 |
| 主分類號: | C30B25/12 | 分類號: | C30B25/12 |
| 代理公司: | 南京利豐知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王鋒 |
| 地址: | 215123 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 提升 材料 生長 產(chǎn)能 改善 均勻 樣品 托盤 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種半導(dǎo)體薄膜外延生長設(shè)備,特別是一種用于半導(dǎo)體薄膜外延生長的 樣品托盤,屬于半導(dǎo)體外延生長技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體薄膜材料是一種應(yīng)用廣泛的半導(dǎo)體材料,它支撐著整個半導(dǎo)體電子產(chǎn)品的水平和 發(fā)展,比如III-V族化合物特別適用于生長光電器件。目前大多數(shù)半導(dǎo)體薄膜材料都由 MOCVD、HVPE、PECVD、ALD、MBE等方法制備,其中MOCVD具有生長效率較高、控 制精度好、成本相對較低等優(yōu)勢,是當前產(chǎn)業(yè)上最為廣泛采用的方法,目前通常應(yīng)用于III-V 化合物材料的生長。
樣品托盤是材料生長設(shè)備中用于放置已有襯底或者材料并用于進一步生長的一種托盤結(jié) 構(gòu)。襯底放置于樣品托盤里的片槽內(nèi),通過物理或者化學(xué)反應(yīng),可以生長得到各種半導(dǎo)體薄 膜材料。隨著材料生長技術(shù)的不斷進步,同時也為了降低材料生長成本,6英寸和8英寸的 樣品托盤已經(jīng)廣泛應(yīng)用于材料外延生長領(lǐng)域中。然而研究發(fā)現(xiàn),6英寸和8英寸的樣品托盤 中外延片外圍的均勻性較差,這是由于在生長時6英寸或8英寸樣品之間存在較大的間隔, 這些間隔會影響生長均勻性,間隔區(qū)的源材料會擴散到樣品邊緣生長,從而造成6英寸或8 英寸樣品邊緣的生長速率速與樣品中間區(qū)域不同,影響樣品均勻性。此外,6英寸和8英寸 石墨盤實際的生產(chǎn)產(chǎn)能依然有限,例如目前Aixtron公司的CriusMOCVD設(shè)備可以采用的 石墨盤的設(shè)計為3個6英寸的片槽,該石墨盤的利用率較低。因此,如何進一步提高樣品托 盤的使用率,提高材料生長的產(chǎn)能,對降低半導(dǎo)體薄膜的生產(chǎn)成本有很大的幫助。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的主要目的在于提供一種提升材料生長產(chǎn)能和改善均勻性的樣品托盤,以克 服現(xiàn)有技術(shù)中的不足。
為實現(xiàn)前述實用新型目的,本實用新型采用的技術(shù)方案包括:
本實用新型的實施例提供了一種提升材料生長產(chǎn)能和改善均勻性的樣品托盤,其包括樣 品托盤本體,所述樣品托盤本體上端面的選定區(qū)域內(nèi)密集分布有兩個以上第一片槽,而所述 樣品托盤本體上端面上除所述選定區(qū)域之外的其余區(qū)域內(nèi)還分布有至少一第二片槽,所述第 一片槽的直徑為4英寸、6英寸或8英寸,所述第二片槽的直徑為2英寸或4英寸,且所述 第一片槽的直徑大于第二片槽的直徑。
在一些實施方案之中,所述樣品托盤本體上端面上分布有兩個以上第二片槽。
在一些實施方案之中,所述第一片槽、第二片槽的片槽深度為0.2~2mm。
在一些實施方案之中,相鄰兩個第一片槽之間的間隔區(qū)域內(nèi)分布有至少一個第二片槽。
更進一步的,相鄰兩個第一片槽之間的間隔區(qū)域內(nèi)分布有兩個以上第二片槽。
在一些實施方案之中,所述樣品托盤本體上端面上離散分布有兩個以上第二片槽。
在一些實施方案之中,三個以上第一片槽密集排布于所述樣品托盤本體上端面上并呈圓 環(huán)形布局。
進一步的,至少一個第二片槽分布與該三個以上第一片槽圍合形成的區(qū)域內(nèi)。
進一步的,所述樣品托盤設(shè)置在MOCVD、HVPE、PECVD、ALD或MBE等薄膜生長 設(shè)備內(nèi)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型的優(yōu)點包括:通過對大尺寸樣品托盤進行改良設(shè)計,既能 改善樣品托盤上樣品的分布均勻性,又能提高了樣品托盤的使用率,使之適用于生長不同尺 寸的半導(dǎo)體薄膜,可以有效提高半導(dǎo)體材料的生長產(chǎn)能,并降低材料生長成本,尤其適用于 MOCVD、HVPE、PECVD、ALD、MBE等多種薄膜生長設(shè)備。
附圖說明
圖1為實施例1中一種樣品托盤的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為實施例2中一種樣品托盤的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如前所述,鑒于現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本實用新型提供了一種改良的樣品托盤,其可以采用 業(yè)界已知的任何合適材料(例如石墨等)制作,其上分布有若干個4英寸、6英寸或8英寸 的片槽,在托盤的其他空余區(qū)域分布有2英寸或4英寸的片槽。
進一步的,所述在空余區(qū)域分布的2英寸或4英寸的片槽可以有一個或者多個。
進一步的,所述2英寸或4英寸的片槽可以分布在空余區(qū)域的任意地方。
進一步的,所述2英寸、4英寸、6英寸或8英寸的片槽深度為0.2~2mm。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201520997293.5/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





