[實用新型]一種脹差校驗儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520881346.7 | 申請日： | 2015-11-06 |
| 公開（公告）號： | CN205279982U | 公開（公告）日： | 2016-06-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陸文華;程衛(wèi)國;錢安家;陳海兵;徐輝平 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計研究院 |
| 主分類號： | G01B7/02 | 分類號： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 上海申匯專利代理有限公司 31001 | 代理人： | 翁若瑩 |
| 地址： | 200240 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 校驗 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種脹差校驗儀，其特征在于：包括底盤(2)，第一探頭固定支架(3)、第二探頭固定支架(5)均固定在底盤(2)上，底盤(2)上還設(shè)有導(dǎo)軌(7)，滑塊(8)可滑動地設(shè)于導(dǎo)軌(7)上，測量靶塊(4)設(shè)于滑塊(8)上，滑塊(8)與測微螺桿(6)的固定座通過彈簧(10)連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種脹差校驗儀，其特征在于：所述第一探頭固定支架(3)、第二探頭固定支架(5)均通過壓塊(9)固定在所述底盤(2)上。
3.如權(quán)利要求1所述的一種脹差校驗儀，其特征在于：所述第一探頭固定支架(3)、第二探頭固定支架(5)上均分布有不同尺寸的螺紋孔、通孔。
4.如權(quán)利要求1所述的一種脹差校驗儀，其特征在于：所述測量靶塊(4)具有不同材料制作的多塊。
5.如權(quán)利要求1所述的一種脹差校驗儀，其特征在于：所述測微螺桿(6)的位移量程為50mm，精度為0.01mm。
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