[實用新型]封裝基板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201520773097.X | 申請日: | 2015-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN205140976U | 公開(公告)日: | 2016-04-06 |
| 發(fā)明(設計)人: | 羅光淋;歐憲勛;彭煜靖 | 申請(專利權)人: | 日月光半導體(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/01 | 分類號: | H01L27/01;H01L21/70 |
| 代理公司: | 北京律盟知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11287 | 代理人: | 林斯凱 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 封裝 | ||
技術領域
本實用新型涉及封裝基板領域,特別是涉及一種具有內(nèi)埋置電容元件的封裝基板。
背景技術
隨著電子產(chǎn)品越來越趨向輕薄、高頻及多功能,其電路集成度越來越高。相應的, 所使用的集成電路的接腳數(shù)和線路布局也不斷增多,導致噪聲隨之增大。為消除噪聲或 作電性補償,可在半導體封裝結構中增加無源器件以消除噪聲和穩(wěn)定電路。
增加無源器件的方式之一是利用表面貼裝技術(SMT,surfacemountedtechnology) 將無源器件整合到基板上,但缺點在于容易產(chǎn)生阻抗,造成信號串擾,而且不能滿足電 子產(chǎn)品日益嚴格的輕薄要求。
另外一種方式是使用無源器件埋置技術將無源器件埋入封裝基板中,例如業(yè)界積極 開展的采用高介電常數(shù)薄膜的埋入式薄膜電容器技術。可參考中國專利CN101170869B 所公開的內(nèi)置電容器的制作流程,其在基板制作過程中利用薄膜沉積法逐層制作。該制 程繁瑣,大大延長了封裝基板制作流程。此外,也可將整片薄膜電容元件直接與封裝基 板進行壓合,但薄膜電容元件極易在壓合過程中產(chǎn)生裂紋或刮痕。提高電容元件的整體 厚度可降低上述風險,但同樣將無法滿足電子產(chǎn)品日益嚴格的輕薄要求。
因而,現(xiàn)有的無源器件埋置技術需進一步提高。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的之一在于提供封裝基板及其制造方法,其可以簡便的制程將無源 器件特別是電容器埋置于封裝基板內(nèi),且封裝基板整體輕薄。
根據(jù)本實用新型的一實施例,一封裝基板具有至少一電容元件及一多層線路結構, 該封裝基板進一步包含:金屬頂層、金屬底層,及位于該金屬頂層與該金屬底層之間的 至少一金屬內(nèi)層。該金屬頂層上設置有該多層線路結構中的頂層線路結構。金屬底層上 設置有該多層線路結構中的底層線路結構。該至少一金屬內(nèi)層上設置有該至少一電容元 件的第二電容極片及該多個線路層結構中的至少一內(nèi)層線路結構,且該至少一內(nèi)層線路 結構的厚度小于該頂層線路結構與該底層線路結構的厚度。
在本實用新型的一實施例中,該至少一電容元件進一步包含設置于該金屬頂層的第 一電容極片。該至少一電容元件的厚度為10-35um,該第二電容極片的厚度為2-5um, 該第一電容極片的厚度為6-15um。優(yōu)選的,該至少一電容元件的厚度為20um,該第一 電容極片的厚度為10um,該第二電容極片的厚度為3um。該封裝基板還包括至少一第一 介電層與一第二介電層,整個第一介電層上布滿用作該至少一電容元件的介電材料的高 介電常數(shù)材料。
本實用新型實施例可提供具有超薄內(nèi)埋薄膜電容元件的多層(3層以上)封裝基板 及其制作方法,其可制作增強薄膜電容以保護電容元件不受損傷,避免制作過程基板翹 曲,同時,還可降低基板整體的厚度,從而提升封裝基板集成度。
附圖說明
圖1a-1f所示是根據(jù)本實用新型一實施例的制造一三層封裝基板的方法的流程示意 圖
圖2a-2h所示是根據(jù)本實用新型一實施例的制造一四層封裝基板的方法的流程示意 圖。
具體實施方式
為更好的理解本實用新型的精神,以下結合本實用新型的部分優(yōu)選實施例對其作進 一步說明。
在半導體封裝結構中增加無源器件可以起到消除噪聲和穩(wěn)定電路的作用。這些無源 器件通常可占據(jù)半導體封裝結構總表面積的50%或更大面積,且其中一半左右是電容元 件。如果將這些無源器件埋入封裝基板中,將極有利于產(chǎn)品的小型化和增加設計靈活性。 此外,這種埋置技術由于減少了焊接連接而可以改善產(chǎn)品的可靠性,并且通過減少噪音 和連接通路而可以進一步降低寄生電感。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





