[實用新型]一種顆粒精細研磨裝置

有效

• 申請號: 201520747722.3
• 申請日: 2015-09-25
• 公開（公告）號: CN204952986U
• 公開（公告）日: 2016-01-13
• 發明（設計）人: 高岑炯;馬志勇
• 申請（專利權）人: 寧波大學
• 主分類號: B02C7/04
• 分類號: B02C7/04;B02C7/12
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務所(普通合伙) 33226
• 代理人: 程曉明

1.一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于包括靜磨體、動磨體和上端蓋，所述的動磨體設置在所述的靜磨體中，所述的上端蓋覆蓋在所述的動磨體的上方且與所述的靜磨體固定連接，所述的動磨體的上端面為向下傾斜的第一傾斜面，所述的上端蓋的下端面與所述的第一傾斜面相匹配，所述的第一傾斜面與所述的上端蓋的下端面之間設置有一級研磨機構，所述的動磨體的側面為下端向內傾斜的第二傾斜面，所述的第二傾斜面與所述的靜磨體的內表面之間設置有與所述的一級研磨機構相連通的二級研磨機構，所述的動磨體的底部與所述的靜磨體的內底面之間設置有用于下料的下料腔，所述的下料腔與所述的二級研磨機構相連通，所述的靜磨體的底部設置有與所述的下料腔相連通的下料口，所述的動磨體上設置有轉動驅動機構。

2.如權利要求1所述的一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于所述的一級研磨機構包括一體設置在所述的第一傾斜面上的第一一級研磨齒和一體設置在所述的上端蓋的下端面上的第二一級研磨齒，所述的第一一級研磨齒與所述的第二一級研磨齒之間設置有用于放置研磨顆粒的第一空隙。

3.如權利要求2所述的一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于所述的第一一級研磨齒和所述的第二一級研磨齒均為直條狀且橫截面均為等腰三角形，所述的第一一級研磨齒在所述的第一傾斜面上的數量為50～60個且沿圓周方向均勻分布，所述的第二一級研磨齒在所述的上端蓋的下端面的數量為50～60個且沿圓周方向均勻分布。

4.如權利要求2所述的一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于所述的二級研磨機構包括一體設置在所述的第二傾斜面上的第一二級研磨齒和一體設置在所述的靜磨體的內側表面的第二二級研磨齒，所述的第一二級研磨齒與所述的第二二級研磨齒之間設置有第二空隙，所述的第二空隙分別與所述的第一空隙、所述的下料腔相連通，所述的第二空隙上寬下窄。

5.如權利要求4所述的一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于所述的第一二級研磨齒沿所述的第二傾斜面螺旋上升，其螺旋升角為25～30°，所述的第一二級研磨齒的橫截面為等腰三角形，所述的第二二級研磨齒為直條狀且橫截面為等邊三角形，所述的第二二級研磨齒在所述的靜磨體的內側表面的數量為230～250個且沿圓周方向均勻分布。

6.如權利要求1所述的一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于所述的下料腔的底面為方便研磨顆粒下落的傾斜面。

7.如權利要求1所述的一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于所述的上端蓋與所述的靜磨體的上端面之間設置有調節墊片且通過螺釘固定連接。

8.如權利要求1所述的一種顆粒精細研磨裝置，其特征在于所述的轉動驅動機構包括電機和轉軸，所述的轉軸與所述的電機的驅動軸同軸固定連接，所述的動磨體同軸固定套設在所述的轉軸上。