[實用新型]一種IC測試座有效
| 申請號: | 201520717208.5 | 申請日: | 2015-09-16 |
| 公開(公告)號: | CN204945180U | 公開(公告)日: | 2016-01-06 |
| 發明(設計)人: | 李志威;黃蘇芳;譚先鋒 | 申請(專利權)人: | 萬高(杭州)科技有限公司;國網智能電網研究院;國家電網公司;國網山東省電力公司電力科學研究院 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 羅滿 |
| 地址: | 310053 浙江省杭州市濱*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 ic 測試 | ||
技術領域
本實用新型涉及IC測試技術領域,應用于IC封裝后的測試裝置,更具體地說,涉及一種IC測試座。
背景技術
目前在IC測試過程中,如果帶電取放芯片,那么電路中的電容是充滿電的,將新的芯片放入IC測試座時,芯片引腳與IC測試座的針床接觸的一瞬間,電路中的電容會放電,產生微弱的電流,這種放電電流會通過芯片,相當于突然給芯片加上一個電源電壓,而芯片上電一般需要經歷電容充電電壓上升的過程,由于芯片一般比較脆弱,因此突然施加一個電壓容易使芯片受到損傷,嚴重的還可能使芯片燒毀。
為避免帶電取放芯片,目前IC測試有兩種解決方法,第一種是外加電源開關,第二種是通過程序控制。其中,利用外加電源開關的方法,在測試過程中,能夠避免帶電取放芯片,從而避免對芯片造成損傷,但是其電路復雜、占用面積大,每次取放芯片之前必須開關一次電源,而且測試時容易遺漏對開關的操作,導致帶電操作,這樣就還有一定概率對芯片造成損傷而降低良率;而利用程序控制的方法,無需手動即可實現自動上電和斷電,但是電路設計復雜,占用面積大,還需要占用主控芯片一個I/O口來控制電源的開關,軟件和硬件的設計復雜度都有所增加,消耗的資源多。
上述兩種避免帶電取放芯片的方式,操作復雜,電路復雜,需要消耗額外的器件資源和芯片的I/O資源,占用面積大,增加了軟硬件設計難度。
實用新型內容
為解決上述技術問題,本實用新型提供了一種IC測試座,能夠在不增加軟硬件的設計難度,還不需要消耗額外的器件資源和I/O資源的基礎上,做到不帶電取放芯片,而且操作簡單。
本實用新型提供的一種IC測試座,包括上蓋板和基座,所述基座的上表面的四個角的位置設置有定位孔,至少一個所述定位孔中設置有控制芯片供電電源通斷的按鍵開關,所述上蓋板與所述基座閉合時按壓所述按鍵開關,使所述按鍵開關閉合,接通所述芯片供電電源,所述上蓋板與所述基座分離時解除所述上蓋板對所述按鍵開關的壓力,使所述按鍵開關斷開,斷開所述芯片供電電源。
優選的,在上述IC測試座中,四個所述定位孔中均設置有控制所述芯片供電電源通斷的按鍵開關。
優選的,在上述IC測試座中,所述按鍵開關的直徑大于所述定位孔的通孔的直徑,小于所述定位孔的沉孔的直徑。
優選的,在上述IC測試座中,所述按鍵開關包括:
開關基座和按鈕;
設置于所述開關基座上的第一觸點和第二觸點;
連接所述第一觸點與電路板的第一引腳,連接所述第二觸點與所述電路板的第二引腳;
設置于所述開關基座和所述按鈕之間的彈片,所述彈片與所述第二觸點常閉式連接,且當所述按鈕按下時與所述第一觸點連接,接通所述芯片供電電源,當所述按鈕松開時與所述第一觸點斷開,斷開所述芯片供電電源。
優選的,在上述IC測試座中,所述第一引腳和所述第二引腳均通過所述定位孔向下連接到所述電路板上。
優選的,在上述IC測試座中,所述第一引腳和所述第二引腳的其中之一通過所述定位孔向下連接到所述電路板上,而另一個通過IC測試座的側壁向下連接到所述電路板上。
優選的,在上述IC測試座中,所述按鍵開關還包括:設置于所述按鈕的上部且與所述開關基座的頂部固定連接的開關蓋板。
優選的,在上述IC測試座中,所述芯片供電電源為單路供電電源或多路并聯供電電源。
從上述技術方案可以看出,本實用新型所提供的一種IC測試座,在所述定位孔中設置有控制芯片供電電源通斷的按鍵開關,所述上蓋板與所述基座閉合時按壓所述按鍵開關,使所述按鍵開關閉合,接通所述芯片供電電源,所述上蓋板與所述基座分離時解除所述上蓋板對所述按鍵開關的壓力,使所述按鍵開關斷開,斷開所述芯片供電電源,可見操作人員利用這種IC測試座進行測試時,操作簡單,不會發生帶電取放芯片的現象,而且這種設計沒有增加軟硬件的設計難度,還不需要消耗額外的器件資源和I/O資源。
附圖說明
為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。
圖1為本申請實施例提供的一種IC測試座的左視圖;
圖2為本申請實施例提供的一種IC測試座的俯視圖;
圖3為本申請實施例提供的一種按鍵開關的示意圖。
具體實施方式
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