[實用新型]一種IC測試座

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520717208.5
• 申請日: 2015-09-16
• 公開（公告）號: CN204945180U
• 公開（公告）日: 2016-01-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李志威;黃蘇芳;譚先鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 萬高（杭州）科技有限公司;國網(wǎng)智能電網(wǎng)研究院;國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)山東省電力公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種IC測試座，包括上蓋板和基座，所述基座的上表面的四個角的位置設(shè)置有定位孔，其特征在于，至少一個所述定位孔中設(shè)置有控制芯片供電電源通斷的按鍵開關(guān)，所述上蓋板與所述基座閉合時按壓所述按鍵開關(guān)，使所述按鍵開關(guān)閉合，接通所述芯片供電電源，所述上蓋板與所述基座分離時解除所述上蓋板對所述按鍵開關(guān)的壓力，使所述按鍵開關(guān)斷開，斷開所述芯片供電電源。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試座，其特征在于，四個所述定位孔中均設(shè)置有控制所述芯片供電電源通斷的按鍵開關(guān)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試座，其特征在于，所述按鍵開關(guān)的直徑大于所述定位孔的通孔的直徑，小于所述定位孔的沉孔的直徑。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC測試座，其特征在于，所述按鍵開關(guān)包括：

開關(guān)基座和按鈕；

設(shè)置于所述開關(guān)基座上的第一觸點和第二觸點；

連接所述第一觸點與電路板的第一引腳，連接所述第二觸點與所述電路板的第二引腳；

設(shè)置于所述開關(guān)基座和所述按鈕之間的彈片，所述彈片與所述第二觸點常閉式連接，且當所述按鈕按下時與所述第一觸點連接，接通所述芯片供電電源，當所述按鈕松開時與所述第一觸點斷開，斷開所述芯片供電電源。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的IC測試座，其特征在于，所述第一引腳和所述第二引腳均通過所述定位孔向下連接到所述電路板上。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的IC測試座，其特征在于，所述第一引腳和所述第二引腳的其中之一通過所述定位孔向下連接到所述電路板上，而另一個通過IC測試座的側(cè)壁向下連接到所述電路板上。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的IC測試座，其特征在于，所述按鍵開關(guān)還包括：設(shè)置于所述按鈕的上部且與所述開關(guān)基座的頂部固定連接的開關(guān)蓋板。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項所述的IC測試座，其特征在于，所述芯片供電電源為單路供電電源或多路并聯(lián)供電電源。