[實用新型]一種用于檢測背光模組的電路結構

有效

• 申請號: 201520707547.5
• 申請日: 2015-09-14
• 公開（公告）號: CN205028626U
• 公開（公告）日: 2016-02-10
• 發明（設計）人: 薛峰
• 申請（專利權）人: 東莞市亞通光電有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/44
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 羅曉林

技術領域

本實用新型涉及一種電路，具體地說是一種用于檢測背光模組性能的檢測驗治具中的電路結構。

背景技術

目前所使用的具有顯示功能的電子產品，如電視、顯示器、數字相機、移動電話、PDA、隨身式DVD等都是通過液晶面板配置來顯示影音訊號，而液晶面板的影像顯示更依賴于背光模組的光源設計及品質管理，背光模組會直接影響顯示影像的效果與畫面對比品質，因此，良好的背光模組將會提高液晶面板影像顯示的品質。

隨著液晶顯示器使用范圍越來越廣，其背光在檢驗要求上也越來越嚴格，而且為了保證產生效率，對檢測事情也要求越來越快。傳統的檢測方式，先用低電流驅動背光模組進行檢測,然后再用正常電流驅動背光模組來檢測，此檢測方式需要人工操作，由于需要不同的電流，需要設置一個電流開關，用低電流檢測時，則撥向低電流方向，電路中流過低電流，使背光模組發亮。需要較高電流時，則撥向較高電流方向，電路中流過較高電流，使背光模組發高，從而查看背光模組是否存在不良之處。由于需要人工切換開關，導致操作速度較慢，浪費時間和精力。而且，部分工人有時為了節省時間，可能直接忽略掉低電流檢測，從而給背光模組的質量帶來影響。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種能夠自動轉換不同電流的用于檢測背光模組的電路結構。

為了解決上述技術問題，本實用新型采取以下技術方案：

一種用于檢測背光模組的電路結構，具有輸入端IN和輸出端OUT，所述電路還包括可控硅Q1、三極管Q2、三極管Q3、光耦合器、電容C和電阻R2，光耦合器和電阻R2串聯連接后與可控硅Q1的發射極和電容C連接，電容C通過線路分別與可控硅Q1的基極、光耦合器連接，可控硅Q1的基極與電容C之間還設有電阻R4，可控硅Q1的集電極通過線路與光耦合器連接，三極管Q2的集電極與電容C連接，三極管Q2的基極與三極管Q3的集電極連接，三極管Q3的基極通過線路連接至光耦合器，三極管Q3的基極通過電阻R7與該三極管Q3的發射極連接，可控硅Q1、三極管Q2和三極管Q3的發射極均通過線路與輸入端IN連接，光耦合器通過線路與輸出端OUT連接，輸入端IN通過線路還與三級管Q2的基極、三級管Q3的集電極連接。

所述電阻R2的阻值為560歐姆。

所述可控硅Q1的基極通過電阻R3與該可控硅Q1的發射極連接。

所述電容C與光耦合器間設有電阻R1。

所述三極管Q3的基極與光耦合器間設有電阻R5，該電阻R5和電阻R1并聯連接。

所述電阻R1的阻值優選為47K歐姆，電阻R5的阻值優選為100K歐姆。

所述電阻R3的阻值優選為47K歐姆，電阻R4的阻值優選為4.7K歐姆，電阻R7和電阻R6的阻值均優選為100K歐姆。

本實用新型電路應用在一種檢驗治具中，用于對背光模組進行檢測，接上背光模組，能夠在較低電流和正常電流之間自動轉換換擋，不需要人工撥動開關轉換，有效提升了操作效率，降低工作強度。

附圖說明

附圖1為本實用新型電路原理示意圖。

具體實施方式

為了便于本領域技術人員的理解，下面結合附圖對本實用新型作進一步的描述。

如附圖1所示，本實用新型揭示了一種用于檢測背光模組的電路結構，具有輸入端IN和輸出端OUT，所述電路還包括可控硅Q1、三極管Q2、三極管Q3、光耦合器3、電容C和電阻R2，光耦合器3和電阻R2串聯連接后與可控硅Q1的發射極和電容C連接，電容C通過線路分別與可控硅Q1的基極、光耦合器連接，可控硅Q1的基極與電容C之間還設有電阻R4，可控硅Q1的集電極通過線路與光耦合器連接，三極管Q2的集電極與電容C連接，三極管Q2的基極與三極管Q3的集電極連接，三極管Q3的基極通過線路連接至光耦合器，三極管Q3的基極通過電阻R7與該三極管Q3的發射極連接，可控硅Q1、三極管Q2和三極管Q3的發射極均通過線路與輸入端IN連接，光耦合器通過線路與輸出端OUT連接，輸入端IN通過線路還與三級管Q2的基極、三級管Q3的集電極連接。即電容C的一端、可控硅Q1發射極、三極管Q2發射極、三極管Q3發射極均相互連接后再通過線路與輸入端IN連接。光耦合器用于當放入背光模組有背光時導通。