[實用新型]一種半導體測試分選設備

有效

• 申請號: 201520591964.8
• 申請日: 2015-08-07
• 公開（公告）號: CN204866563U
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發明（設計）人: 譚杰;陳祺;羅江;杜戰
• 申請（專利權）人: 佛山市藍箭電子股份有限公司
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/02
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 艾持平

1.一種半導體測試分選設備，包括震動盤、轉盤、動吸嘴、定吸嘴、定位器和衛星工作臺，所述動吸嘴設置在所述轉盤上，所述定吸嘴、定位器和衛星工作臺分別固定在所述轉盤底座的四周，所述震動盤通過導軌與所述定吸嘴連接，其特征是，在所述導軌設置吹氣孔，在所述定吸嘴設置凹槽，在所述定位器設置第一定位槽，在所述衛星工作臺設置第二定位槽。

2.根據權利要求1所述的半導體測試分選設備，其特征是，所述導軌包括彎弧導軌和直導軌，在所述彎弧導軌的一端設置第一吹氣孔，在所述彎弧導軌的另一端設置第二吹氣孔，在所述直導軌的下方均布若干吹氣孔。

3.根據權利要求1所述的半導體測試分選設備，其特征是，所述定吸嘴的凹槽設置在定吸嘴的吸氣口處，所述定吸嘴的凹槽的寬度略大于產品注塑凸口的寬度，所述凹槽的深度大于產品注塑凸口的高度。

4.根據權利要求1所述的半導體測試分選設備，其特征是，所述第一定位槽和第二定位槽的凹槽數量和位置根據產品管腳的數量和位置設置。

5.根據權利要求4所述的半導體測試分選設備，其特征是，所述定位槽的凹槽寬度大于產品管腳的寬度，所述定位槽的凹槽深度大于管腳的長度。

6.根據權利要求4或5所述的半導體測試分選設備，其特征是，所述第一定位槽的凹槽數量為6個，分別設置在所述定位器的中間。

7.根據權利要求4或5所述的半導體測試分選設備，其特征是，所述第二定位槽的凹槽數量為6個，分別設置在所述衛星工作臺的定位塊的中間。

8.根據權利要求7所述的半導體測試分選設備，其特征是，所述定位塊為4塊，分別對稱設置在所述衛星工作臺的上下左右。