[實用新型]一種半導體測試分選設備

有效

• 申請號: 201520591964.8
• 申請日: 2015-08-07
• 公開（公告）號: CN204866563U
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發明（設計）人: 譚杰;陳祺;羅江;杜戰
• 申請（專利權）人: 佛山市藍箭電子股份有限公司
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/02
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 艾持平

技術領域

本實用新型涉及半導體測試領域，特別涉及一種半導體測試分選設備。

背景技術

半導體器件SOT23-5、SOT23-6封裝的產品測試打印編帶分選設備包括震動盤1、轉盤2、動吸嘴3、定吸嘴4、定位器5和衛星工作臺6，測試時，半導體測試產品10從導軌8滑到定吸嘴4上，此時一旦產品10的注塑凸口10.1的一端對著吸氣口4.2處的平面，會因接觸面不平而左右擺動，從而導致產品因吸附不牢造成停機；繼續下一工序時，產品10由動吸嘴3吸住移動到定位器5上，動吸嘴3停止吸氣使整個產品10放入到定位器5中間的凹槽內，由于凹槽內沒有定位，導致產品10在凹槽里面左右擺動，管腳容易碰到兩邊從而導致變形；同理，產品10進入到衛星工作臺6時，衛星工作臺6的定位塊6.2也沒有設置定位，同樣會導致產品管腳的變形，甚至是二次變形。不但不能保證產品質量，而且生產效率低。

實用新型內容

本實用新型針對現有技術的不足，提出一種半導體測試分選設備，不但成本低，而且故障率降低，產品質量好，生產效率高。采用下述技術方案：

一種半導體測試分選設備，包括震動盤、轉盤、動吸嘴、定吸嘴、定位器和衛星工作臺，動吸嘴設置在所述轉盤上，定吸嘴、定位器和衛星工作臺分別固定在所述轉盤底座的四周，震動盤通過導軌與定吸嘴連接，在導軌設置吹氣孔，在定吸嘴設置凹槽，在定位器設置第一定位槽，在衛星工作臺設置第二定位槽。

進一步地，導軌包括彎弧導軌和直導軌，在所述彎弧導軌的一端設置第一吹氣孔，在所述彎弧導軌的另一端設置第二吹氣孔，在所述直導軌的下方均布若干吹氣孔。

進一步地，定吸嘴的凹槽設置在定吸嘴的吸氣口處，定吸嘴的凹槽的寬度略大于產品注塑凸口的寬度，凹槽的深度大于產品注塑凸口的高度。

進一步地，第一定位槽和第二定位槽的凹槽數量和位置根據產品管腳的數量和位置設置；定位槽的凹槽寬度大于產品管腳的寬度，所述定位槽的凹槽深度大于管腳的長度。

具體地，第一定位槽的凹槽數量為6個，分別設置在定位器的中間；第二定位槽的凹槽數量為6個，分別設置在衛星工作臺的定位塊的中間；定位塊為4塊，分別對稱設置在衛星工作臺的上下左右。

本實用新型具有以下優點和積極效果：

本實用新型將目前的測試半導體器件SOT23-3封裝的測試分選設備改造成測試半導體器件SOT23-5、SOT23-6封裝的測試分選設備，不但成本低，實現了對SOT23-3、SOT23-5、SOT23-6三種型號半導體的測試，而且故障率降低，產品質量好，生產效率高。

下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步詳細的說明。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為本實用新型的側面剖視圖；

圖3為圖2的A部放大圖；

圖4為本實用新型的定位器的結構示意圖；

圖5為本實用新型的衛星工作臺的結構示意圖；

圖6為圖5的A-A剖面圖。

具體實施方式

圖1為本實用新型的結構示意圖，圖2為本實用新型的側面剖視圖。結合圖1和圖2所示，一種半導體測試分選設備，包括震動盤1、轉盤2、動吸嘴3、定吸嘴4、定位器5和衛星工作臺6，動吸嘴3設置在所述轉盤2上，定吸嘴4、定位器5和衛星工作臺6分別固定在所述轉盤2底座的四周，震動盤1通過導軌與定吸嘴4連接，在導軌設置吹氣孔，在定吸嘴4設置凹槽4.1，在定位器5設置第一定位槽5.1，在衛星工作臺6設置第二定位槽6.1。

導軌包括彎弧導軌7和直導軌8，在彎弧導軌7的一端設置第一吹氣孔7.1，對著進入彎弧導軌7內的產品10進行吹氣推送，在彎弧導軌7的另一端設置第二吹氣孔7.2，對產品10進行吹氣推送使其快速進入直導軌8內，在直導軌8的下方沿導軌均布若干吹氣孔8.1，對著進入直導軌8內的產品10進行吹氣，將其推送至定吸嘴4。